[发明专利]一种芯片测试系统、方法、设备及介质有效

专利信息
申请号: 202210760710.9 申请日: 2022-06-30
公开(公告)号: CN114816894B 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 郑俊飞;任明刚 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 宋薇薇;马鹏林
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种芯片测试系统、方法、设备及介质,系统包括:应用层、通信层、虚拟化层、硬件设备层和引擎层,应用层配置为将用户操作转化为用例执行请求,并基于所述通信层的通信协议将所述用例执行请求发送到用例服务调度模块;用例服务调度模块配置为基于用例执行请求调用虚拟主机上的用例服务;用例服务配置为从用例执行请求中获取测试参数,并将测试参数配置到硬件设备;硬件设备配置为基于测试参数调用对应的算法加速引擎来执行测试,并将测试结果通过用例服务调度模块返回到应用层。本发明的方案提高了测试系统的可移植性、安全性及可靠性;降低了系统模块间的耦合并增强了系统可扩展性。
搜索关键词: 一种 芯片 测试 系统 方法 设备 介质
【主权项】:
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