[发明专利]一种缺陷标注方法、缺陷标注设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210495266.2 | 申请日： | 2022-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN115034171A | 公开（公告）日： | 2022-09-09 |
| 发明（设计）人： | 陈龙;曹沿松 | 申请（专利权）人： | 奥蒂玛光学科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3947 | 分类号： | G06F30/3947;G06F30/398;G06F115/12 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 张晓薇 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种缺陷标注方法、缺陷标注设备及存储介质。该包括：获取电路板图像，以及电路板图像对应的缺陷信息；获取缺陷信息中至少一种信息类型的缺陷子信息；基于至少一种信息类型的缺陷子信息，及其信息类型对应的标注规则，在电路板图像上标注缺陷的相关内容。通过上述实施方式，基于缺陷子信息，及对应的标注规则对电路板图像上的缺陷进行标记，能够通过标记便于用户查看电路板图像中的缺陷，提高对缺陷检查的效率，以及对缺陷检查的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 标注 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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