[发明专利]一种适用于SERF惯性装置的温度梯度测试系统在审
| 申请号： | 202210407470.4 | 申请日： | 2022-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN115420399A | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 全伟;武嘉琪;刘祀浔;范文峰 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00;G01K7/18 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 吴小灿;张涛 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种适用于SERF惯性装置的温度梯度测试系统主要包括：气室温度梯度调节模块以及气室温度梯度实时监测模块构成。气室温度梯度调节模块主要包括由温度传感器，高精度温度控制电路板，多片无磁电加热膜以及滑动变阻器组成，温度控制电路板与滑动变阻器的相互配合，进而稳定塑造不同状态的气室温度梯度，气室温度梯度实时监测模块主要通过CCD相机实时采集不同气室温度梯度下干涉条纹的数量与疏密程度信息，从而实现气室温度梯度的实时监测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 serf 惯性 装置 温度梯度 测试 系统 | ||
【主权项】：
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- 本申请公开了一种高时间分辨率的磁共振温度成像方法和装置，属于磁共振测温成像技术领域。所述高时间分辨率的磁共振温度成像方法包括：采用径向序列对待诊断区域进行基于磁共振线圈的扫描，获取待诊断区域对应的k空间数据；基于时间帧对k空间数据、径向序列的辐条以及径向序列的权重进行分组，获取至少两组分组数据；基于磁共振线圈的灵敏度图对至少两组分组数据进行重建，获取多帧目标时间帧图像；多帧目标时间帧图像中无欠采伪影；基于任意相邻的两帧目标时间帧图像之间的温度差，获取目标温度变化图像。本申请的高时间分辨率的磁共振温度成像方法，能够获取待诊断区域连续变化的温度变化过程，提高了温度变化过程的时间分辨率。
- 一种通过测试压力获取温度的系统-201710261897.7
- 陈俊慧;李晶;梁景荣;刘选华 - 广州市豪尔生医疗设备有限公司
- 2017-04-20 - 2023-08-11 - G01K11/00
- 本发明实施例公开了一种通过测试压力获取温度的系统，包括：压力传感器、压力温度转换器、热电偶模拟器电路、控制中心；所述压力传感器将获取的压力值发送至压力温度转换器，由压力温度转换器通过安托尼方程计算器将测取的压力值换算成温度值，并将温度值发送至热电偶模拟器电路，热电偶模拟器电路根据接收的温度值，转换成相应的电阻值，并将电阻值输出至控制中心。本发明通过对数字电位器的改进，使数字电位器的最高精度可以达到0.3欧姆，与原最高精度相比，提高了将近100倍，通过本发明测量的压缩空气的压力获取的电阻值，与饱和蒸汽通过温度传感器获取的电阻值完全一致，本发明结构简单，使用方便，安全性能更高。
- 基于OFDR的硅光芯片温度测量装置及方法-201811060836.5
- 王辉文;张晓磊;温永强 - 武汉昊衡科技有限公司
- 2018-09-12 - 2023-08-11 - G01K11/00
- 本发明公开了一种基于OFDR的硅光芯片温度测量装置及方法，其中装置包括线性扫频激光器、光纤分束器、光纤环形器、硅光芯片、模斑变换器、光纤耦合器、光电探测器、数据采集卡和计算机。本发明的测量方法基于光频域反射技术，将待测硅光芯片本身作为传感器，光通过特殊结构的模斑变换器进出芯片。温度的变化会引起芯片瑞利散射光谱移动，移动量通过测量瑞利散射光谱(温度变化后)与参考光谱(原始温度)互相关运算得到。互相关峰偏离值为移动量，对应于温度变化量。该测量方式具有空间分辨率高、精度高的特点，解决了传统传感手段传感器布设复杂、测量结果易受外界影响等问题，特别适用于微小硅光芯片温度测量。
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