[实用新型]用于电子芯片性能检测用测试座有效
| 申请号： | 202120572053.6 | 申请日： | 2021-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN214310785U | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 宋成龙;吴声亮 | 申请（专利权）人： | 深圳市蔚来芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 广东中科华海知识产权代理有限公司 44668 | 代理人： | 曾弦 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供用于电子芯片性能检测用测试座，涉及测试座装置技术领域，包括底座和测试板，所述测试板的底面设有转换板，且转换板与测试板的底面螺栓连接，且转换板与测试板电性连接，所述转换板的底面设有探针板，且探针板与转换板的底面螺栓连接，且探针板与转换板电性连接，所述测试板的底面固定有卡合块。采用转换板的设计，在测试板的底面设有可拆卸的转换板，转换板的底面设有测试用的探针板，且转换板分别与测试板、探针板电性连接，这种设计使测试座可以测试不同规格的电子芯片，只需要简单更换不同规格的转换板和探针板，减少了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电子 芯片 性能 检测 测试 | ||
【主权项】：
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