[发明专利]一种温度敏感型芯片测试设备及其测试方法在审
| 申请号： | 202111618100.7 | 申请日： | 2021-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN114355159A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 代彬;姜豪;王琦 | 申请（专利权）人： | 江苏海纳电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 苏州吴韵知识产权代理事务所(普通合伙) 32364 | 代理人： | 金伟强 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市新吴区震*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片测试技术领域，且公开了一种温度敏感型芯片测试设备及其测试方法，包括测试设备本体、故障自停设备和定位槽，所述定位槽开设于测试设备本体的顶部，所述定位槽内壁的右侧开设有凹槽，所述凹槽的内部设置有定位机构，所述定位槽的内部插接有定位块，所述定位块的顶部与故障自停设备的底部固定连接，所述测试设备本体的内部设置有降温系统。本发明，通过设置测试设备本体、故障自停设备和降温系统的配合使用，这样就能够很好的保证内部的温度不会超标，使内部的温度始终一直，解决了故障自停和降温效果差的问题，该温度敏感型芯片测试设备及其测试方法，具备故障自停和降温效果好的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 温度 敏感 芯片 测试 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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