[发明专利]ICP-OES法测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法在审
| 申请号： | 202111526682.6 | 申请日： | 2021-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN116263408A | 公开（公告）日： | 2023-06-16 |
| 发明（设计）人： | 林明圆;胡盛青;陈晓宇;黄小琴;李思佳 | 申请（专利权）人： | 湖南航天磁电有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73;G01N1/38;G01N1/44 |
| 代理公司： | 长沙星耀专利事务所(普通合伙) 43205 | 代理人： | 宁星耀;姜芳蕊 |
| 地址： | 410200 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | ICP‑OES法测定电感粉末中铁、硅、铬含量的方法，样品的处理方法为：将磨细的待测电感粉末样品烘干，过筛；用王水和氢氟酸溶解，加入硼酸，混合均匀，静置，过滤；根据待测元素含量进行分级稀释定容。本发明将电感耦合等离子体发射光谱法用于分析电感粉末中铁、硅、铬的含量，灵敏度与精密度高、准确性好、分析效率高；将氢氟酸对测试系统的损害降至最低；适用范围广、检测成本低。 | ||
| 搜索关键词： | icp oes 测定 电感 粉末 含量 方法 | ||
【主权项】：
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