[发明专利]一种可自主调整试样表面水平度的纳米压痕测试装置在审

专利信息
申请号: 202111475733.7 申请日: 2021-12-06
公开(公告)号: CN114184506A 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 孙兴冻;张仁博;汪杰;徐克;许良元;朱林;孙军;方继红;程迁;赵弘;蔡联合;周健飞;蒋珂;武婉迪 申请(专利权)人: 安徽农业大学
主分类号: G01N3/42 分类号: G01N3/42;G01N3/08;G01N3/02;G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 230036 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种可自主调整试样表面水平度的纳米压痕测试装置可对纳米压痕试样进行自动调平试样表面,同时不用再次改变试样表面处理状态及夹持状态。其特征在于:包括纳米压痕仪部分,试样自动调平机构、气浮隔震台。所述的试样调平机构通过底部螺栓固定在底部机架上,纳米压痕仪整体设在气浮隔震台上。本发明与现有技术相比,将液压调平系统与平面位移系统相结合,研发了一种全自动的纳米压痕仪自动调平装置,不仅解决了传统平台装夹后无法得到试样表面平整度的信息,同时也解决了传统平台一次装夹后无发法在二次调平试样的问题。
搜索关键词: 一种 自主 调整 试样 表面 水平 纳米 压痕 测试 装置
【主权项】:
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