[发明专利]一种提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台在审
| 申请号： | 202111411255.3 | 申请日： | 2021-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN113947049A | 公开（公告）日： | 2022-01-18 |
| 发明（设计）人： | 王建利 | 申请（专利权）人： | 山东华芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33;G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南泉城专利商标事务所 37218 | 代理人： | 赵玉凤 |
| 地址： | 250101 山东省济南市高新*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开一种提高功能覆盖率的自反馈芯片验证平台，包括激励发生器、输入监视器、输出监视器、参考模型、比较器，覆盖率收集器和覆盖率反馈器，增加了覆盖率反馈器，会对收集的覆盖率的结果进行存储和分析，产生没有被覆盖的功能项，然后输送给激励生成器，促使激励发生器产生特定的没有被覆盖的激励。本发明在以往的验证平台中新增加了覆盖率反馈器，使得验证平台形成了一个自反馈系统，从而减小了不必要的测试，减小了测量次数和测量时间，提高了芯片验证的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 功能 覆盖率 反馈 芯片 验证 平台 | ||
【主权项】：
暂无信息
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