[发明专利]一种红外弱小目标的检测方法及装置在审
申请号: | 202111314963.5 | 申请日: | 2021-11-08 |
公开(公告)号: | CN114037870A | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 马玉莹;黄成章;黄静颖;陈秀芬;乔志平 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十一研究所 |
主分类号: | G06V10/764 | 分类号: | G06V10/764;G06V10/82;G06V30/19;G06V10/30;G06K9/62;G06N3/04 |
代理公司: | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人: | 田卫平 |
地址: | 100015*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种红外弱小目标的检测方法及装置,包括获取红外图像数据;基于红外图像数据利用第一检测器进行检测,并确定相应的第一检测结果的置信度;在第一检测结果的置信度大于第一阈值的情况下,直接判断目标类型;在第一检测结果的置信度大于第二阈值且小于第一阈值的情况下,对红外图像数据中的目标区域进行上采样;将上采样后的目标区域利用第二检测器进行检测,并确定相应的第二检测结果的置信度,其中第二检测器的检测粒度小于第一检测器的检测粒度;在第二检测结果的置信度大于第一阈值的情况下,判断目标类型。本公开通过第一检测器的粗粒度检测和第二检测器的细粒度检测能够提高对红外图像中弱小目标的检出能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 红外 弱小 目标 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十一研究所,未经中国电子科技集团公司第十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111314963.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种光波导中金属刻蚀的方法
- 下一篇:一种便于回收的温盐深仪