[发明专利]一种对储层孔隙及颗粒表面积的定量分析方法在审
| 申请号： | 202110884669.1 | 申请日： | 2021-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN113670791A | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 久博;黄文辉;穆娜娜;李媛 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学（北京） |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;G06T5/00;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62 |
| 代理公司： | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人： | 胡阔雷 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种对储层孔隙及颗粒表面积的定量分析方法，包括对不同类型的储层样品进行磨样并在偏光显微镜下捕捉样品铸体薄片图像，将样品铸体薄片图像进行二值化图像的转化；对二值化图像进行降噪处理；对二值化图像中的孔隙特征进行孔隙轮廓的识别和提取，来对二值化图像的像素突变位置进行测定，获得储层样品的孔隙和颗粒的分界线；根据孔隙和颗粒的分界线获取孔隙2D比表面积、颗粒2D比表面积；利用多个储层样品的孔隙2D比表面积、颗粒2D比表面积估算3D孔隙比表面积与颗粒3D比表面积。本发明在提供的定量分析方法能够基于最简单最易获取的储层铸体薄片对孔隙或者颗粒的2D及3D比表面积进行计算，极大地压缩了常规手段计算分析所需要的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 孔隙 颗粒 表面积 定量分析 方法 | ||
【主权项】：
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