[发明专利]一种用于快速测量光纤传感器阵列的测量装置与方法在审
| 申请号： | 202110675794.1 | 申请日： | 2021-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN113281018A | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 李彦明;李宜宁;陈剑;唐靖;王敏哲;袁燕飞;杨元旭;熊婷婷;李洋 | 申请（专利权）人： | 上海传输线研究所（中国电子科技集团公司第二十三研究所） |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01H9/00 |
| 代理公司： | 上海市嘉华律师事务所 31285 | 代理人： | 黄琮;夏烨 |
| 地址： | 200437 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及光纤传感器阵列测量领域，具体涉及一种用于快速测量光纤传感器阵列的测量装置与方法，其特征在于：包括可谐调波长光源(1)，所述可谐调波长光源(1)与1*M路光开关连接，待测光纤传感器(3)接入所述1*M路光开关的另一端，所述待测光纤传感器(3)同时接入若干1*N路光开关，所述若干1*N路光开关分接接入若干PD光电转换，若干PD光电转换同时接入示波器与显控端电脑(12)，其中M大于等于N。本发明不用每次使用插拔的方法用标准衰减器代替待测光纤传感器在光路中的位置，再测试经过标准衰减器后的光强，而是用光开关自动切换标准衰减器直接测试光源的光强，避免手动插拔的影响，带来更好的重复性和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 快速 测量 光纤 传感器 阵列 装置 方法 | ||
【主权项】：
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