[发明专利]α粒子发射率测量方法在审
| 申请号： | 202110654439.6 | 申请日： | 2021-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN113484894A | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 张战刚;罗俊洋;雷志锋;黄云;陈资文;彭超;何玉娟;肖庆中;李键坷;路国光 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01T1/16 | 分类号： | G01T1/16 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 郭凤杰 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子器件可靠性技术领域，公开了一种α粒子发射率测量方法，包括对粉末样品进行定型制样；分别对样品托盘和空的样品容器进行α粒子发射率背底测试，获得所述样品托盘的α粒子发射率和空的所述样品容器的α粒子发射率；对装满所述粉末样品的样品容器进行α粒子发射率测试，根据所述样品托盘的发射率和空的所述样品容器的α粒子发射率，获得所述粉末样品的α粒子发射率。通过根据实验需求对粉末样品进行定型和防沾污制样，来解决粉末样品存在形状不固定、容易被电离室气体吹起、容易污染托盘等问题。所述方法排除了试验设备对测试结果的干扰，解决了粉末样品α粒子发射率测试难题的同时还提高了试验准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 发射 测量方法 | ||
【主权项】：
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