[发明专利]一种原子力显微镜胶体探针的表面修饰方法在审

专利信息
申请号: 202010629989.8 申请日: 2020-07-03
公开(公告)号: CN112083197A 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 王振全;赛克·高希;张迪;董蕙;苏博;何南 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01Q60/38 分类号: G01Q60/38
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 廖娜
地址: 650504 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种原子力显微镜胶体探针表面修饰方法,属于原子力显微镜探针修饰技术领域。本发明提供了一种高成功率的胶体探针合成与表面修饰的方法,可以更准确测量胶体与矿物之间的相互作用力。步骤如下:将胶体微球浸没于FeOOH的溶液中一段时间,取出烘干后置于官能团修饰液中一定时间后冷干。使用30G注射器针头蘸取最少量的环氧树脂混合液并转移至探针悬臂前端,使用新的针头吸取修饰好的胶体微球并转移至悬臂上,环氧树脂固化后即可得到官能团修饰的胶体探针。本发明能够大幅提高胶体探针的良品率,降低官能团修饰探针的表面粗糙度,大幅降低实验误差。
搜索关键词: 一种 原子 显微镜 胶体 探针 表面 修饰 方法
【主权项】:
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