[发明专利]模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法及测试设备有效
| 申请号： | 202010041470.8 | 申请日： | 2020-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN111189616B | 公开（公告）日： | 2022-01-25 |
| 发明（设计）人： | 刘永;杜明 | 申请（专利权）人： | 苏州众为光电有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 11369 | 代理人： | 张川 |
| 地址： | 215000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明提供的模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，包括步骤如下：测试前先对光子晶体光纤试样进行检测，记录作为测试前的损耗初始值α |
||
| 搜索关键词： | 模拟 光子 晶体 光纤 状态 测试 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州众为光电有限公司，未经苏州众为光电有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010041470.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
