[实用新型]一种芯片转接结构有效

专利信息
申请号: 201922333521.X 申请日: 2019-12-23
公开(公告)号: CN211125643U 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 周天飞;徐永敏;魏垂亚;李广辉;邵疆;陈参参 申请(专利权)人: 上海季丰电子股份有限公司
主分类号: H01L23/544 分类号: H01L23/544;H01L23/492
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 吴轶淳
地址: 200120 上海市浦东新区中国(上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及芯片电性测试技术领域,具体涉及一种芯片转接结构,包括:一橡胶层,所述橡胶层内嵌入高密度金线,用于引出一信号;一基片层,与所述橡胶层连接,位于所述橡胶层下表面,用于接收所述信号;一印刷线路板层,位于所述基片层下表面,所述基片层焊接于所述印刷线路板层上,用于将所述基片层接收的所述信号引出,并扩展连接到一仪器或一自动化设备上。本实用新型芯片锡球或者衬垫与橡胶层表面的金线接触,将信号引出,无需过度关注芯片与转接结构的定位问题,且能对芯片样品即时测试,无需进行复杂、冗长的反复植球工作,节约成本,保障样品安全;同时橡胶层替换方式简单,便于后期维护,维护成本低。
搜索关键词: 一种 芯片 转接 结构
【主权项】:
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