[发明专利]一种宽频段光电探测器频率响应的测试方法有效
| 申请号： | 201911217270.7 | 申请日： | 2019-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN110879103B | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 张尚剑;王梦珂;徐映;何禹彤;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 一种宽频段光电探测器频率响应的测试方法，属于光电子技术领域，旨在提供一种光电探测器频率响应的宽频段、高分辨率、自校准测试方法。本发明利用光学频率梳产生梳状光谱信号，输入到电光强度调制器中被射频信号源调制，然后输出的光调制信号输入到待测光电探测器中进行光电转换，最后在频谱分析模块中分析特定的频率分量，并通过设置特定的射频调制频率，实现待测光电探测器频率响应的分段拼接，同时消除光学频率梳以及电光强度调制器的不平坦响应的影响，最终仅需要一个射频信号源单独驱动电光强度调制器就可以实现光电探测器频率响应的宽频段、高分辨率、自校准测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 宽频 光电 探测器 频率响应 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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