[发明专利]一种光谱分析仪的收纳设备在审

专利信息
申请号: 201911113152.1 申请日: 2019-11-14
公开(公告)号: CN110907034A 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 马增 申请(专利权)人: 天津精益宽谱科技有限公司
主分类号: G01J3/02 分类号: G01J3/02;G01N21/01
代理公司: 天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙) 12217 代理人: 邓琳
地址: 300384 天津市滨海新区华苑*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于收纳设备领域,尤其是一种光谱分析仪的收纳设备,针对现有的在光谱仪使用完之后在室内随意放置,时间一长很容易导致光谱仪上积满灰尘,影响光谱仪的使用,同时,因不具备专门的收纳设备,人为碰撞等会导致光谱仪的损坏,给人们带来损失的问题,现提出如下方案,其包括收纳台,所述收纳台的顶部开设有收纳槽,收纳槽内滑动安装有两个固定台,两个固定台的上方设置有同一个固定板,固定板上开设有两个限位孔。本发明结构简单,操作方便,能够在光谱分析仪主体使用过后对其进行收纳,同时能够对其防尘,防止灰尘或人为碰撞导致光谱分析仪主体损坏的情况,减小了人们的损失。
搜索关键词: 一种 光谱分析 收纳 设备
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  • 2023-08-17 - 2023-09-15 - G01J3/02
  • 本发明公开了一种针对多器件的LED光源板的光谱测量装置及方法,其中装置包括样品检测台和光谱采集单元,所述样品检测台适于放置待测样品并沿X轴、Y轴和Z轴均可移动设置,所述光谱采集单元包括可调节地设于样品检测台上方的光阑以及固定安装在光阑上方的光谱采集口,所述光阑上设有多个不同孔径的透光孔,所述透光孔适于通过调节光阑移动至光谱采集口的正下方。本发明装夹一次LED光源板即可将各个LED器件移动至检测位,通过具有多种规格的透光孔的光阑,满足不同LED器件的光谱测试需求,避免多个LED器件的光谱相互叠加干扰,从而实现对同一个LED光源板上的多个LED器件进行独立且准确的光谱测试。
  • 具有多个光学路径的仪器-201980088419.8
  • 古伊劳姆·德鲁阿尔特;弗洛伦斯·德·拉·巴里埃雷 - 国家航空航天研究所
  • 2019-12-13 - 2023-09-15 - G01J3/02
  • 具有多路径单片式的光学组件(1)的仪器,其由所述组件的两个相对面之间为透明材料的部分组成。组件的两个面中的一个由第一折射表面(S1)形成,且另一面包括并置的若干第二折射表面(S2)。组件的每个光学路径由所述第二折射表面中的一个与所述第一折射表面的相应部分组合而形成。一个这样的组件适合于在所述仪器内成为具有多个光学路径的检测模块的部分,所述多个光学路径与由所述光学路径共享的矩阵光电检测器平行地布置。所述检测模块能够足够紧凑以集成到低温恒温器冷屏蔽物中,从而改进其冷却,且能够与物镜组合以形成具有多个光学路径的仪器。
  • 一种基于多级谐振腔结构的光谱滤波器及光谱仪-202310810481.1
  • 姚春晖;林天华;严亭;程祺翔 - 徐州光引科技发展有限公司
  • 2023-07-04 - 2023-09-15 - G01J3/02
  • 本发明涉及光谱检测技术领域,公开了一种基于多级谐振腔结构的光谱滤波器及光谱仪,其在使用时被配置在计算式光谱仪中,所述光谱滤波器至少具有一路光通道,在其中一路光通道上至少设有n+1个线性排列的反射镜,n∈N且n≥2;所述反射镜具有一定的反射率,反射率在5%至50%;相邻两个反射镜之间构成一个谐振腔,n+1个线性排列的反射镜构成n级谐振腔;每个谐振腔的腔长在20μm至2000μm之间,其中至少有两个谐振腔的腔长相异或者至少有两个反射镜的反射率相异,以使n级谐振腔能产生在频域上高随机的透射谱。
  • 一种太阳反射全波段高光谱成像探测系统-202210123382.1
  • 刘银年;张宗存;秦荣杰;孙德新;赵云;柯有龙 - 中国科学院上海技术物理研究所
  • 2022-02-10 - 2023-09-12 - G01J3/02
  • 本发明公开了一种太阳反射全波段高光谱成像探测系统,包括望远镜集光系统、视场分离组件、光谱仪组件和探测器组件,所述视场分离组件包括一体化三分视场分离器、第一视场组件、第二视场组件和第三视场组件,所述光谱仪组件包括第一光谱仪、第二光谱仪和第三光谱仪;所述探测器组件包括CMOS探测器、InGaAs探测器和HgCdTe探测器。本发明采用三波段光谱仪,解决了传统太阳反射全波段高光谱探测系统两波段光谱仪长期存在的光谱混叠、光电效率中间高两端低、探测动态范围受限和Etalon干涉效应严重等问题,从而使高光谱探测系统的范围、效率和精度实现了最优化,根源上消除了上述难题,在提升整体探测效能的同时,从系统上简化了光电组部件的复杂性和难度。
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