[发明专利]红外反射和透射测量系统及方法有效
| 申请号： | 201910610537.2 | 申请日： | 2019-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN110286100B | 公开（公告）日： | 2022-07-15 |
| 发明（设计）人： | 戚泽明;胡传圣;李承祥 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35;G01N21/31;G01N21/3563;G01N21/552;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张静 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种红外反射和透射测量系统及方法，本发明技术方案针对磁场调控物性的表征问题，将红外光谱学测量和磁场结合起来，可以实现磁场下的可变低温红外反射和透射测量，而且该测量系统进行反射和透射测量时，不需要改变光路，也不需要重新装载样品，对于即可以反射又可以透射红外光的样品，可以同时测量其反射和透射谱。 | ||
| 搜索关键词： | 红外 反射 透射 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种红外反射和透射测量系统，其特征在于，所述测量系统包括：超导磁体室，所述超导磁体室具有相对的第一法兰口和第二法兰口，所述第一法兰口和所述第二法兰口之间具有用于放置所述待测样品，所述超导磁体室用于为所述待测样品提供磁场环境；反射谱测量装置，所述反射谱测量装置用于将红外光谱仪发射的红外光通过所述第一法兰口照射到所述待测样品上，通过所述第一法兰口获取所述待测样品反射的红外光，测量样品的红外反射谱信息；透射测量装置，所述透射测量装置用于通过所述第二法兰口获取所述待测样品透射的红外光，测量样品的红外透射谱信息。
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