[发明专利]零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 201910451062.7 申请日: 2019-05-28
公开(公告)号: CN110146182B 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 黎芳;刘慧 申请(专利权)人: 北京建筑大学
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王庆龙;张睿
地址: 100044*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供一种零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统。其中,方法包括:根据零阶涡旋光束的光强图,获取光强矩阵;根据光强矩阵获取束腰半径和光强最大处的半径;根据束腰半径和光强最大处的半径,获取拓扑荷的测量结果。本发明实施例提供的零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统,通过对零阶涡旋光束的光强图进行数值处理,测量出零阶涡旋光束的拓扑荷,能获得精度更高的测量结果,能降低测量的成本,测量更加灵活、方便。
搜索关键词: 涡旋 光束 拓扑 测量方法 装置 系统
【主权项】:
1.一种零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法,其特征在于,包括:根据零阶涡旋光束的光强图,获取光强矩阵;根据所述光强矩阵获取束腰半径和光强最大处的半径;根据所述束腰半径和光强最大处的半径,获取拓扑荷的测量结果。
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