[发明专利]一种基于SIFT-FLANN与误匹配点剔除的图像配准方法有效
申请号: | 201910217844.4 | 申请日: | 2019-03-21 |
公开(公告)号: | CN109934860B | 公开(公告)日: | 2022-10-18 |
发明(设计)人: | 董丽丽;晋杰;姜宇航;张萌;许文海 | 申请(专利权)人: | 大连海事大学 |
主分类号: | G06T7/33 | 分类号: | G06T7/33 |
代理公司: | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人: | 姜玉蓉;李洪福 |
地址: | 116026 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明提供一种基于SIFT‑FLANN与误匹配点剔除的图像配准方法,包括:从源图像中选取一张基准图,利用SIFT算法对基准图和待配准图像进行特征检测;利用FLANN算法对基准图与待配准图像进行特征点匹配,获得一组匹配对;使用基于角度偏移的方法对获得的匹配对进行筛选,获得一组精确度高的匹配对;利用高精度组匹配对进行计算,得到待配准图像相对基准图的位移参数。本发明利用基于角度偏移进行匹配对筛选,剔除误差较大的匹配对,提高图像配准的精确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 sift flann 匹配 剔除 图像 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于SIFT‑FLANN与误匹配点剔除的图像配准方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:获取多张源图像,并从多张源图像中随机选取一张图像作为基准图,剩余图像作为待配准图像;步骤S2:利用SIFT算法对所述基准图和待配准图像进行特征检测,得到所述基准图和待配准图像的特征点信息;步骤S3:利用步骤S3中得到的基准图和待配准图像的特征点信息,使用FLANN算法对基准图与待配准图像进行特征匹配,得到基准图与待配准图像之间的匹配对;步骤S4:利用基于角度偏移的误匹配对剔除方法,对步骤S3得到的匹配对进行处理,得到精确度高的一组匹配对;步骤S5:利用步骤S4中获得的一组高精确度匹配对进行计算,得到待配准图像相对基准图的位移参数。
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