[发明专利]一种磁控溅射装置和托盘检测方法有效

专利信息
申请号: 201910062031.2 申请日: 2019-01-23
公开(公告)号: CN109811323B 公开(公告)日: 2023-09-08
发明(设计)人: 李新颖;武学伟;刘玉杰;董博宇;文莉辉;武树波;杨依龙;郭冰亮;宋玲彦;赵晨光;马迎功;杨建;张家昊;陈玉静;张璐 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/54
代理公司: 北京正和明知识产权代理事务所(普通合伙) 11845 代理人: 冯志慧
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供一种磁控溅射装置和托盘检测方法,该装置包括:腔室,所述腔室内设有用于承载托盘的基座;传感器,所述传感器能发射和/或接收沿直线路径传播的探测信号,且所述探测信号的路径平行于所述基座的承载表面,以检测所述基座上的托盘;以及控制部件,所述控制部件接收所述传感器的状态信号,根据所述状态信号判断所述基座上托盘的状态。通过上述方案,传感器的检测范围与托盘的厚度相匹配,能够对是否存在托盘和托盘是否破损进行识别;有效解决磁控溅射的腔室中托盘状态无法及时检测的问题。
搜索关键词: 一种 磁控溅射 装置 托盘 检测 方法
【主权项】:
1.一种磁控溅射装置,其特征在于,所述装置包括:腔室,所述腔室内设有用于承载托盘的基座;传感器,所述传感器能发射和/或接收沿直线路径传播的探测信号,且所述探测信号的路径平行于所述基座的承载表面,以检测所述基座上的托盘;以及控制部件,所述控制部件接收所述传感器的状态信号,根据所述状态信号判断所述基座上托盘的状态。
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