[实用新型]低压化学气相沉积设备有效
申请号: | 201821487966.2 | 申请日: | 2018-09-11 |
公开(公告)号: | CN208667842U | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 陈腾飞;孟宪宇;吴宗祐;林宗贤 | 申请(专利权)人: | 德淮半导体有限公司 |
主分类号: | C23C16/24 | 分类号: | C23C16/24;C30B28/14;C30B29/06 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 杨楷;毛立群 |
地址: | 223300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型涉及半导体加工设备技术领域,公开了一种低压化学气相沉积设备,用于沉积多晶硅,包括底座、外管以及内管,外管设置在底座上,内管设置于外管的内部且用于提供沉积空间,在外管的内壁上形成有缓冲层。通过在外管的内壁上形成有缓冲层,使得沉积过程中形成的多晶硅不是直接形成在内壁上,而是形成在缓冲层上。在低压高温的LPCVD工艺中,形成在缓冲层上的多晶硅层因热膨胀所带来的应力集中作用到缓冲层上,减小外管所受的应力大小,外管不易产生裂痕。在每一次的设备维护和保养的过程中,无需更换外管,而只需将旧的缓冲层去除、再在外管的内壁上形成新的缓冲层,即可重复进行LPCVD工艺。外管不用报废,能够循环使用,减少浪费,大大降低了成本。 | ||
搜索关键词: | 外管 缓冲层 内壁 低压化学气相沉积设备 多晶硅 沉积 底座 内管 热膨胀 半导体加工设备 应力集中作用 本实用新型 沉积空间 低压高温 多晶硅层 设备维护 直接形成 裂痕 减小 去除 保养 报废 重复 | ||
【主权项】:
1.一种低压化学气相沉积设备,用于沉积多晶硅,其特征在于,包括:底座、外管以及内管,所述外管设置在所述底座上,所述内管设置于所述外管的内部且用于提供沉积空间,在所述外管的内壁上形成有缓冲层。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的