[发明专利]一种基于blktrace的磁盘I/O性能故障定位分析方法在审
| 申请号： | 201810046301.6 | 申请日： | 2018-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN108304306A | 公开（公告）日： | 2018-07-20 |
| 发明（设计）人： | 杨文清 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34;G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 刘晓政 |
| 地址： | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明涉及磁盘测试分析技术领域，提供了一种基于blktrace的磁盘I/O性能故障定位分析方法，包括（10）安装和调试blktrace；（20）收集目标分区的I/O性能数据；（30）对目标分区的性能值IOPS分析；（40）确定fio访问磁盘位置轨迹图，并得出结论。本申请所要保护的方案既可以精确分析磁盘的I/O性能，也可以定位发生I/O性能故障的位置。该方法一方面丰富了I/O性能分析方法；另一方面可以定位I/O故障发生位置，可结合实际应用分析出问题产生的原因，最终减少不必要的I/O干扰，提升磁盘性能。 | ||
| 搜索关键词： | 性能故障 分析 目标分区 磁盘I/O 磁盘 故障发生位置 磁盘测试 磁盘位置 性能分析 性能数据 轨迹图 调试 申请 应用 访问 | ||
【主权项】：
1.一种基于blktrace的磁盘I/O性能故障定位分析方法，其特征在于，包括：（10）安装和调试blktrace；（20）收集目标分区的I/O性能数据；（30）对目标分区的性能值IOPS分析；（40）确定fio访问磁盘位置轨迹图，并得出结论。
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