[发明专利]校准系统有效

专利信息
申请号: 201710839547.4 申请日: 2017-09-18
公开(公告)号: CN108307178B 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: H.米勒 申请(专利权)人: 艾克松有限责任公司
主分类号: H04N13/246 分类号: H04N13/246;H04N5/232;G02B27/62;G02B23/24;G02B30/35;A61B1/045;A61B1/00;A61B34/20
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 李萌
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及校准立体光学系统的方法和用于光学系统的校准系统。校准系统具有预定参考对象、传感器系统、数据评估模块和图像处理器。数据评估模块设计为接收传感器系统测取的图像数据,并且根据图像数据确定布置在视野中的预定参考对象的至少两个可见参考对象特征的位置信息,以及确定位置数据,位置数据包含通过至少一个参考点确定的、待检查对象的通过所述光学系统提供的图像的位置偏差或在立体光学系统中的第一和第二半图像的位置偏差。图像处理器设计为由参考对象的至少两个可见参考对象特征的位置信息求得光学畸变,并对所接收的图像数据设置相应的几何校正,以及还设计为根据所测得的位置偏差对所接收的图像数据设置相应的偏移。
搜索关键词: 校准 系统
【主权项】:
1.一种用于校准光学系统、尤其立体光学系统的方法,具有以下步骤:‑将具有已知的可见参考对象特征的、预定参考对象布置在通过所述光学系统检测的视野中;‑通过传感器系统测取由所述光学系统提供的所述预定参考对象的图像,或者在立体光学系统中的所述预定参考对象的第一和/或第二半图像;‑确定预定参考对象的至少两个在所述图像或在所述第一和/或第二半图像中成像的可见的参考对象特征的位置信息;‑根据所述至少两个可见的参考对象特征的位置信息求得所述图像或所述第一和/或第二半图像的光学畸变;‑通过根据求得的光学畸变设置几何校正,校准与传感器系统至少间接地相连的图像处理器;其中,在光学系统用于检测被检查对象的运行期间,所述方法还具有以下步骤:‑将待检查的对象布置在通过光学系统检测的视野中;‑测取位置数据,所述位置数据包含通过至少一个参考点确定的、通过所述光学系统提供的待检查对象的图像的位置偏差或在立体光学系统中的待检查对象的第一和第二半图像的位置偏差;和‑通过由图像处理器设置所述图像或第一和/或第二半图像的相应位移来根据所测取的位置偏差校准图像处理器。
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