[发明专利]连续等离子体中的原子层蚀刻有效
申请号: | 201710066218.0 | 申请日: | 2017-02-06 |
公开(公告)号: | CN107045977B | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 谭忠魁;张依婷;吴垠;徐晴;符谦;山口叶子;崔麟 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠;邱晓敏 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及连续等离子体中的原子层蚀刻。基于通过评估待蚀刻材料和用于蚀刻材料的化学物质确定的去除能量阈值使用自限制反应来蚀刻衬底的方法和装置涉及连续等离子体的流动。工艺条件允许受控的自限制各向异性蚀刻,而不在用于蚀刻衬底上的材料的化学物质之间交替。良好控制的蚀刻前沿允许反应性自由基和惰性离子的协同效应以执行蚀刻,使得当衬底被反应性自由基改变并且被惰性离子移除时蚀刻材料,而当材料被反应性自由基改变但不存在惰性离子时或当存在惰性离子但材料没有被反应性自由基改变时不蚀刻材料。 | ||
搜索关键词: | 连续 等离子体 中的 原子 蚀刻 | ||
【主权项】:
一种蚀刻衬底的材料的方法,所述方法包括:将处理室中的衬底暴露于由反应性物质产生的等离子体和由惰性离子气体产生的等离子体,以使用自限制反应去除所述材料,其中用于使用所述惰性离子气体去除由所述反应性物质改变的所述材料的层的能量阈值小于使用所述惰性离子气体溅射在所述衬底上的所述材料的能量阈值。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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