[实用新型]一种X射线分幅相机曝光时间的测量装置有效

专利信息
申请号: 201621235121.5 申请日: 2016-11-18
公开(公告)号: CN206164747U 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 袁铮;陈韬;曹柱荣;邓克立;杨志文;李晋 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心51210 代理人: 翟长明,韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型提供了一种X射线分幅相机曝光时间的测量装置,所述装置包括沿光路方向顺序排列的激光器、光束分割延迟器、标准具和真空腔体。激光器输出的激光束被光束分割延迟器分割为等空间间距、等时间间隔的序列子光束Ⅰ,再正入射到标准具,转化成一系列与标准具的光程差相同、光强逐渐减弱的序列子光束Ⅱ,序列子光束Ⅱ透过真空腔体前端面的玻璃窗口,照射到X射线分幅相机的微带线阴极上,经选通成像后得到曝光图像,获得曝光时间。该测量装置具有体积小,效率高,测量结果直观易见的优点,能精密标定曝光时间小于10ps的X射线分幅相机,为X射线分幅相机的诊断测试数据的处理和理论程序的校验提供依据。
搜索关键词: 一种 射线 相机 曝光 时间 测量 装置
【主权项】:
一种X射线分幅相机曝光时间的测量装置,其特征在于,包括沿光路方向顺序排列的激光器(1)、光束分割延迟器(2)、标准具(3)和真空腔体(4);所述的激光器(1)输出的激光束照射到光束分割延迟器(2)上,被光束分割延迟器(2)分割为等空间间距、等时间间隔的序列子光束Ⅰ;序列子光束Ⅰ正入射到标准具(3),经标准具(3)后序列子光束Ⅰ转化成一系列与标准具(3)的光程差相同、光强逐渐减弱的序列子光束Ⅱ,序列子光束Ⅱ透过真空腔体(4)前端面的玻璃窗口,进入真空腔体(4),照射到X射线分幅相机(5)的微带线阴极上;所述的真空腔体(4)的后端面与X射线分幅相机(5)的前端面通过带密封圈的真空密封面密封连接;所述的激光器(1)输出的激光束的波长为X射线分幅相机(5)的响应波长,激光束的脉宽小于等于X射线分幅相机(4)曝光时间的1/10,激光束的光斑直径大于等于X射线分幅相机5的微带线阴极的宽度;所述的标准具(3)的光程差大于等于X射线分幅相机曝光时间的2倍;所述的序列子光束Ⅰ的子光束的强度一致,序列子光束Ⅰ的子光束的宽度小于等于X射线分幅相机(5)的微带线阴极宽度的1/12;所述的序列子光束Ⅰ的相邻子光束的空间距离小于X射线分幅相机微带线阴极宽度的1/7,相邻子光束的时间间隔小于等于X射线分幅相机曝光时间的1/2。
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