[发明专利]电磁发射要素检测分析系统有效

专利信息
申请号: 201611027604.0 申请日: 2016-11-18
公开(公告)号: CN106526380B 公开(公告)日: 2018-03-16
发明(设计)人: 苏东林;武嘉艺;贾云峰;尚晓凡 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种电磁发射要素检测分析系统,针对电磁频谱数据进行分析和辨识,对超标原因进行诊断与定位。该仪器具有RE102/CE102的输入功能,可以对电磁频谱发射数据进行处理与分析。使用时,首先使用外设的频谱仪或电磁发射接收机进行测试,采集得到被测设备或系统的辐射发射数据;然后对数据进行预处理分析,对超标频段的电磁发射数据分析获取窄带超标数据和宽带的趋势分量。然后,采用自相关方差分析综合法提取谐波数量与对应的基频值;之后,对频谱中其余超标窄带频点使用周期分析法进行正弦的区分与提取;生成整体分析报告。本发明仪器可以将频谱数据中发射要素的特性进行较为完备的分析与提取,对系统或设备电磁兼容性分析和设计具有重要的意义。
搜索关键词: 电磁 发射 要素 检测 分析 系统
【主权项】:
一种电磁发射要素检测分析系统,其特征在于包括:测试天线与探头、被测设备、接收机设备与电磁发射要素分析仪;所述电磁发射要素检测分析仪包括主处理器、数据存储模块、数据输入模块、屏幕显示模块、供电模块;所述接收机设备通过测试天线与探头采集被测设备的频谱数据;然后数据传输到所述电磁要素分析仪对频谱数据进行系统分析,分析包括,预处理分析、谐波分析、正弦分析;通过分析使得设备的频谱数据完成电磁发射要素的逐步提取,并生成分析数据;所述主处理器将用户输入的指令转化为相应的控制语言进行分析控制,依据用户的选择进行预处理分析、谐波分析、正弦分析分析;所述预处理分析采用多分辨率分析法,对接收机设备所获得的频谱数据进行整体的认知并对后续分析有一定的针对性选择;所述谐波分析采用周期分析方法,对窄带分量中所有的超标点进行周期分析,若所述超标点为周期信号,则将该超标点定为谐波频点,并计算谐波频点的基频,检验有效性后在界面做出相应标识与显示;所述正弦分析采用周期性分析方法,对窄带分量中所有的超标点进行周期分析,若所述超标点为非周期信号,则将该超标点定为正弦频点,读取并显示正弦频点的频率和幅度,并在界面做出相应标识与显示;所述数据存储模块,读取保存在整个的CSV文件,同时把电磁发射要素分析过程中的数据文件,图片文件以及分析报告进行存储,为后续电磁兼容分析与整改提供支撑;所述数据输入模块与接收机设备前段电磁发射数据测量仪器连接,实现数据的实时传输,实时的利用前端测试设备的数据进行电磁发射要素分析;所述屏幕显示模块采用可触摸型屏幕进行界面的显示;电源供电模块在未连接电源的情况下,为整个系统稳定的输出12V电压,保证系统正常工作。
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