[发明专利]一种γ射线检测的曝光曲线计算方法

摘要

一种γ射线检测的曝光曲线计算方法，所述曝光曲线计算方法是：(一)基础参数获得；利用相关的器材获取基础参数，具体获取基础参数的步骤是：a)采用较长时间t₁和较短时间t₂，焦距F₀固定，暗室处理过程全部固定，拍摄阶梯试块，获得两张不同时间的底片，用黑度计测定获得透照厚度与对应黑度的两个时间曝光下的数据，绘制两张D‑T曲线图；b)选定一基准黑度值，从D‑T曲线图中查出对应于该黑度的透照厚度。得到较长时间t₁和较短时间t₂曝光量对应的透照厚度值T₁、T₂；(二)曝光曲线计算法理论推导，其中利用射线的衰减公式及互易律公式，经计算最终得到拍摄的底片的黑度为基准黑度值3.0时所需要的曝光时间t₃。

主权项

1.一种γ射线检测的曝光曲线计算方法，其特征在于所述曝光曲线计算方法是：(一)基础参数获得；利用如下器材获取基础参数：所需制作曲线的γ射线发生器、装有胶片的暗袋若干、射线用阶梯试块1块、垫板1～3块、卷尺1把、黑度计1台；获取基础参数的步骤：a)采用较长时间t1和较短时间t2，焦距F0固定，暗室处理过程全部固定，拍摄阶梯试块，获得两张不同时间的底片，用黑度计测定获得透照厚度与对应黑度的两个时间曝光下的数据，绘制两张D‑T曲线图；b)选定一基准黑度，从D‑T曲线图中查出对应于该基准黑度的透照厚度，得到较长时间t1和较短时间t2曝光量对应的透照厚度T1、T2；(二)曝光曲线计算法理论推导；曝光曲线是基于射线的衰减公式及互易律公式绘制而成的，其中：c)衰减公式I＝I0e^(‑μT)……………………④I……透过工件后的射线强度；I0……初始射线强度；μ……衰减系数；T……透照厚度；注：射线强度只与源活度有关；d)互易律公式E＝t1＝I2t2＝I3t3＝…………………………⑤由④式和⑤式得，I0t1e^(‑μT1＇)＝I0t2e^(‑μT2)＝I3t3e^(‑μT3)……⑥I3……实际检测时源强度；t3……实际检测时使用的曝光时间；T3……实际检测时射线的透照厚度；e)由⑥式得：μ＝ln(t1/t2)/(T1‑T2)t3＝I0t1e^(μ(T3‑T1))/I3  ＝I0t1e^(ln(t1/t2)(T3‑T1)/(T1‑T2))/I3  ＝I0t1(t1/t2)^((T3‑T1)/(T1‑T2))/I3；或t3＝I0t2(t1/t2)^((T3‑T2)/(T1‑T2))/I3；γ射线源活度衰减服从实数规律：N＝N0e^(‑λT)；T……实际检测距制作曝光曲线时经过的时间；N0……制作曝光曲线时的原子核数目；N……实际检测时的原子核数目；λ……γ射线源衰变常数，为已知条件；I0/I3＝N0/N＝e^(λT)；从而得t3＝e^(λT)t1(t1/t2)^((T3‑T1)/(T1‑T2))；或t3＝e^(λT)t2(t1/t2)^((T3‑T2)/(T1‑T2))；所述的曝光时间t3使用曝光因子公式Ψ＝At/F2＝A1t1/F12＝A2t2/F22＝……；进行修正计算，以便消除实际检测中实际使用的焦距F和制作曝光曲线时的焦距F0不一致带来的影响；修正后，t3＝F2e^(λT)t1(t1/t2)^((T3‑T1)/(T1‑T2))/F02；或t3＝F2e^(λT)t2(t1/t2)^((T3‑T2)/(T1‑T2))/F02。