[发明专利]一种对金属微粒运动过程中带电量的测量方法有效
| 申请号： | 201510889747.1 | 申请日： | 2015-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN106841834B | 公开（公告）日： | 2019-12-13 |
| 发明（设计）人： | 孙继星;陈维江;李志兵;颜湘莲;刘北阳;王浩;傅中 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院;国家电网公司;国网安徽省电力公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01R29/24 | 分类号： | G01R29/24 |
| 代理公司： | 11271 北京安博达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 徐国文 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种对金属微粒运动过程中带电量的测量方法，根据金属微粒在真空环境匀强电场中的受力分析及通过观测金属微粒在电极间的运动过程，考虑了金属微粒在电极附近的放电过程，得到金属微粒在该电场中运动过程中的带电量，与实际状况更接近。解决微粒运动过程中的带电量难以通过静电检测装置等直接测量的困难。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 金属 微粒 运动 过程 电量 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种对金属微粒运动过程中带电量的测量方法，其特征在于：所述方法步骤如下：/n步骤1，测量极板间距H；/n步骤2，测量极板间施加的电压U；/n步骤3，测量金属微粒的质量m；/n步骤4，确定微粒运动拍摄的帧频率f
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