[发明专利]一种用于校准矢量网络分析仪的校准装置及校准方法有效
申请号: | 201510232267.8 | 申请日: | 2015-05-08 |
公开(公告)号: | CN105044637B | 公开(公告)日: | 2018-06-12 |
发明(设计)人: | 魏连成;薛龙;曹金龙 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 陈永宁 |
地址: | 266000 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及微波毫米波元器件特性参数测试技术领域,具体涉及一种用于校准矢量网络分析仪的校准装置及校准方法;该校准装置及校准方法简化了直通校准过程,利用特定连接方式的单刀多掷微波开关实现直通电子标准,当电子校准件端口数为N时,将需要实现的直通电子标准的数量由N(N‑1)/2减少到(N‑1),需要的直通电子标准的数量不会随端口数急剧增长,同时大大降低直通电子标准的插入损耗,有利于提高多端口电子校准的精度,易于大端口数多端口电子校准件的设计实现。 | ||
搜索关键词: | 校准 电子标准 电子校准 矢量网络分析 校准装置 端口数 多端口 单刀多掷微波开关 微波毫米波 元器件特性 参数测试 插入损耗 连接方式 校准过程 大端口 | ||
【主权项】:
一种用于校准矢量网络分析仪的校准方法,其特征在于,包括:根据校准时所使用的校准装置的端口,上传对应电子标准的定标数据至矢量网络分析仪主机,通过所述定标数据分别内插出校准频点对应的幅度和相位校准数据;分别在所述矢量网络分析仪的各待校准端口进行单端口反射电子校准,提取出各待校准端口的方向性误差EDi、源匹配ESi和反射跟踪误差ERi:
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