[发明专利]层状双氢氧化物取向膜及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201480004336.3 申请日: 2014-12-16
公开(公告)号: CN104903240B 公开(公告)日: 2016-12-07
发明(设计)人: 藤崎惠实;齐藤直美;山田直仁 申请(专利权)人: 日本碍子株式会社
主分类号: C01F7/00 分类号: C01F7/00
代理公司: 北京旭知行专利代理事务所(普通合伙)11432 代理人: 王轶,李伟
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供一种层状双氢氧化物取向膜,所述层状双氢氧化物取向膜使层状双氢氧化物板状粒子在大致垂直方向高度取向,也适合致密化。本发明的层状双氢氧化物取向膜包含通式M2+1-xM3+x(OH)2An-x/n·mH2O(式中,M2+是2价的阳离子,M3+是3价的阳离子,An-是n价的阴离子,n为1以上的整数,x为0.1~0.4,m为0以上)所表示的层状双氢氧化物,通过X射线衍射法测定取向膜的表面的情况下,实质上没有检测到(003)晶面的峰,或者检测到的(003)晶面的峰比(012)晶面的峰弱。
搜索关键词: 层状 氢氧化物 取向 及其 制造 方法
【主权项】:
一种层状双氢氧化物取向膜,是包含由下述通式表示的层状双氢氧化物的层状双氢氧化物取向膜,M2+1-xM3+x(OH)2An-x/n·mH2O式中,M2+为2价的阳离子,M3+为3价的阳离子,An-为n价的阴离子,n为1以上的整数,x为0.1~0.4,m为0以上,其特征在于,在通过X射线衍射法来测定该取向膜的表面的情况下,实质上没有检测到(003)晶面的峰,或者检测到的(003)晶面的峰比(012)晶面的峰弱。
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  • 周云斌;刘鑫;曾能;杨第伦;王海 - 中山华明泰科技股份有限公司
  • 2016-08-26 - 2018-09-25 - C01F7/00
  • 本发明公开了一种纳米镁铝水滑石,其以可溶性镁盐、可溶性铝盐、可溶性碳酸盐和碱性沉淀剂为主要原料,添加起泡助剂,先经气泡液膜反应制备前驱体滤饼、再经水热反应、过滤、洗涤和干燥而制成。本发明采用气泡液膜法与水热反应相结合制备纳米镁铝水滑石,生产的纳米镁铝水滑石具有粒径均匀、纯度高、分散性好和重复性好的优点;制备过程简单,对环境友好,可进行规模化生产;气泡液膜反应在常温下进行,可降低能耗,节约生产成本。
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