[发明专利]测量力的测量元件、测量体和测量装置以及这种测量体的应用有效
| 申请号： | 201380032957.8 | 申请日： | 2013-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN104395720B | 公开（公告）日： | 2017-02-08 |
| 发明（设计）人： | 丹尼斯·科勒 | 申请（专利权）人： | 基斯特勒控股公司 |
| 主分类号： | G01L1/16 | 分类号： | G01L1/16;G01L5/16 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司72003 | 代理人： | 黄艳,聂慧荃 |
| 地址： | 瑞士温*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种由对称型32的压电晶体制成的测量元件，用于测量垂直作用于x‑y平面上的力Fz，其中，力Fz导致在测量元件的接受力的表面(5，5′)上发生电荷集聚。在实际应用中需要进行测量，在测量时，正交于力Fz的横向力Fxy在测量体(2)上是可预期的，横向力在测量元件上产生误差信号。根据本发明，测量元件由至少四个、优选八个相同类型的测量元件区段(7)构成，所述测量元件区段具有直的侧面(8，8′)，其中，所述区段(7)在所述x‑y平面中相互接近地并排设置，并在所述侧面(8，8′)上通过狭窄的间隙(9)彼此间隔开，其中，所述区段一起构成圆盘或有孔圆盘(10)的形状，以减少由横向力Fxy在测量元件上引起的干扰信号。此外，晶体方向(11)在所有区段(7)的x‑y平面中沿相同的方向或彼此正交地取向。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 元件 装置 以及 这种 应用 | ||
【主权项】：
一种测量元件，由对称型32的压电晶体制成，所述测量元件在x‑y平面中被设计为平的，以安装在测量体(2)中用于测量垂直于所述x‑y平面作用的力Fz，其中，力Fz导致在所述测量元件的接受力的表面(5，5′)上发生电荷集聚，所述表面配置有电极(6，6′)，其中，在测量时，在所述测量体(2)上正交于所述力Fz的横向力Fxy是可预期的，所述横向力在所述测量元件上产生误差信号，其特征在于，所述测量元件由至少四个相同类型的测量元件区段(7)构成，所述测量元件区段具有直的侧面(8，8′)，其中，所述区段(7)在所述x‑y平面中相互接近地并排设置，并在所述侧面(8，8′)处通过狭窄的间隙(9)彼此间隔开，其中，所述区段一起构成圆盘或有孔圆盘(10)的形状，以减少由横向力Fxy在所述测量元件上引起的干扰信号，其中，晶体方向(11)在所有区段(7)的x‑y平面中沿相同的方向或彼此正交地取向。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于基斯特勒控股公司，未经基斯特勒控股公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201380032957.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
