[发明专利]焊料糊剂、半导体装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201310063995.1 申请日: 2013-02-28
公开(公告)号: CN103692105A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 木山朋纪;田中轨人;柏木利典;白鸟刚 申请(专利权)人: 旭化成电子材料株式会社
主分类号: B23K35/24 分类号: B23K35/24;H01L21/48;H01L23/492
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种焊料糊剂、半导体装置及其制造方法。提供一种糊剂材料,其不使用需要镀覆浴的复杂的电解镀工艺,通过在金属面上对含有Ni合金颗粒的焊料糊剂进行热处理,就在该金属面上形成连续且均匀厚度的焊料层。前述焊料糊剂,其为包含以下成分的焊料糊剂:(1)作为低熔点金属颗粒的Sn颗粒或者Sn合金颗粒,该Sn合金颗粒含有Sn和选自由Ag、Bi、Cu、Ge、In、Sb、Ni、Zn及Au组成的组中的至少一种金属、并且具有低于240℃的熔点;(2)作为高熔点金属颗粒的Ni合金颗粒,其含有Ni和Sn、并且具有240℃以上的熔点;和(3)助熔糊,相对于100质量份的该(1)低熔点金属颗粒,该焊料糊剂含有15质量份~42质量份的该(2)高熔点金属颗粒。
搜索关键词: 焊料 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
一种焊料糊剂,其为包含以下成分的焊料糊剂:(1)Sn颗粒或者Sn合金颗粒,该Sn合金颗粒含有Sn和选自由Ag、Bi、Cu、Ge、In、Sb、Ni、Zn及Au组成的组中的至少一种金属、并且具有低于240℃的熔点;(2)Ni合金颗粒,其含有Ni和Sn、并且具有240℃以上的熔点;和(3)助熔糊,相对于100质量份的该(1)Sn颗粒或者Sn合金颗粒,该焊料糊剂含有15质量份~42质量份的该(2)Ni合金颗粒。
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