[发明专利]通用型测试板在审
| 申请号： | 201210532534.X | 申请日： | 2012-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN103869105A | 公开（公告）日： | 2014-06-18 |
| 发明（设计）人： | 唐会成 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 李仪萍 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种通用型测试板。所述通用型测试板至少包括：具有第一表面及第二表面的板体，其中，在所述第一表面设置有与测试机台对接的第一对接件；在所述第二表面设置有与至少一种第一封装类型的待测芯片对接的第二对接件以及用于与转换板对接的扩展对接件，且所述第一对接件分别与第二对接件及扩展对接件电气连接。本发明的优点包括：无需更换板体即可对不同封装类型的芯片的性能进行测试，有效降低芯片的测试成本，提高了企业经济效益。 | ||
| 搜索关键词： | 通用型 测试 | ||
【主权项】：
一种通用型测试板，其特征在于，所述通用型测试板至少包括：具有第一表面及第二表面的板体，其中，在所述第一表面设置有与测试机台对接的第一对接件；在所述第二表面设置有与至少一种第一封装类型的待测芯片对接的第二对接件以及用于与转换板对接的扩展对接件，且所述第一对接件分别与第二对接件及扩展对接件电气连接。
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