[发明专利]利用Monte Carlo方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法有效
| 申请号： | 201210141945.6 | 申请日： | 2012-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN102662196A | 公开（公告）日： | 2012-09-12 |
| 发明（设计）人： | 张慧;梅雪松;庞杨;周巍;关世荣;韩业辉;黄龙川;滕立才 | 申请（专利权）人： | 黑龙江省科学院技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 张宏威 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 利用Monte Carlo方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法，涉及一种双能X射线成像进行物质识别的方法。它是为了解决目前在安检过程中，物质识别准确率低的问题。其方法：步骤一、利用Monte Carlo方法模拟能量为9MeV和能量为6MeV的电子束轰击钨靶过程，产生轫致辐射，获得X射线谱；步骤二、对步骤一获得的X射线谱进行准直，准直后扫描待测样品，获得扫描图像；步骤三、分析步骤二获得的扫描图像，获得待测样品的识别曲线，根据该识别曲线与物质原子之间的关系，从而实现物质识别。本发明适用于安防检查。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 monte carlo 方法 模拟 射线 成像 进行 物质 识别 | ||
【主权项】：
利用Monte Carlo方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法，其特征是：它由以下步骤实现：步骤一、利用Monte Carlo方法模拟能量为9MeV和能量为6MeV的电子束轰击钨靶过程，产生轫致辐射，获得X射线谱；步骤二、对步骤一获得的X射线谱进行准直，准直后扫描待测样品，获得扫描图像；步骤三、分析步骤二获得的扫描图像，获得待测样品的识别曲线，根据该识别曲线与物质原子序数之间的关系，实现物质识别。
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