[发明专利]薄膜晶体管及其制造方法、以及具备该薄膜晶体管的装置有效
| 申请号: | 201110265137.6 | 申请日: | 2011-09-08 |
| 公开(公告)号: | CN102403361A | 公开(公告)日: | 2012-04-04 |
| 发明(设计)人: | 小野雅司;高田真宏;田中淳;铃木真之 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
| 主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L29/26;H01L21/363 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 蒋亭 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明提供一种可以在低温下制作、并显示出高场效应迁移率的薄膜晶体管。本发明是具备包含氧化物半导体层的活性层的薄膜晶体管,活性层(12)从栅电极侧起沿膜厚方向包含具有第一电子亲和力χ1的第一区域A1和具有小于第一电子亲和力χ1的第二电子亲和力χ2的第二区域A2,并且形成以第一区域A1作为阱层、以第二区域A2和栅绝缘膜(15)作为势垒层的阱型势。这里,将活性层(12)设为包含由a(In2O3)·b(Ga2O3)·c(ZnO)构成的氧化物半导体层,使第二区域A2的b/(a+b)大于第一区域A1的b/(a+b)。 | ||
| 搜索关键词: | 薄膜晶体管 及其 制造 方法 以及 具备 装置 | ||
【主权项】:
一种薄膜晶体管,其特征在于,该薄膜晶体管在基板上具有活性层、源电极、漏电极、栅绝缘膜和栅电极,所述活性层包含:在所述栅电极侧夹隔着所述栅绝缘膜配置的、具有第一电子亲和力的第一区域;和在远离所述栅电极的一侧配置的、具有比所述第一电子亲和力小的第二电子亲和力的第二区域,在所述活性层的膜厚方向,构成以所述第一区域作为阱层、以所述第二区域和所述栅绝缘膜作为势垒层的阱型势,所述活性层是由a(In2O3)·b(Ga2O3)·c(ZnO)构成的氧化物半导体层,其中,a、b、c分别是a≥0,b≥0,c≥0,并且a+b≠0,b+c≠0,c+a≠0,所述第二区域的b/(a+b)大于所述第一区域的b/(a+b)。
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