[发明专利]一种肖特基芯片的生产工艺及生产工艺所用腐蚀液有效
| 申请号: | 201110189705.9 | 申请日: | 2011-07-07 |
| 公开(公告)号: | CN102222615A | 公开(公告)日: | 2011-10-19 |
| 发明(设计)人: | 王兴龙;邹红兵 | 申请(专利权)人: | 重庆平伟实业股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L21/306 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 405200 重庆*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种肖特基芯片的生产工艺,包括以下步骤:提供一原始外延硅片;对原始外延硅片进行氧化,形成氧化层;一次光刻;P环扩散;二次光刻沟槽;一次腐蚀;三次光刻,去除沟间隔的氧化层;二次腐蚀;正面溅射金属Pt、Ni;蒸发正面接触金属Ti、Ni、Ag;光刻金属;背面减薄;蒸发背面接触金属Ti、Ni、Ag,得成品。本发明还公开了一种肖特基芯片的生产工艺所用的腐蚀液,其组份为:HF、HAC、H2O2、HNO3。采用本发明加工肖特基芯片,可实现深度为1.0微米、精度为±0.15微米的光滑沟槽,并使硅的表面积约扩大20%以上,所以同样的芯片面积,采用本发明工作效率提高接近20%,为肖特基芯片的批量生产打下了坚实基础。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 肖特基 芯片 生产工艺 所用 腐蚀 | ||
【主权项】:
一种肖特基芯片的生产工艺,其特征在于:包括以下步骤:(1)提供一原始外延硅片;(2)对原始外延硅片进行氧化,形成氧化层;(3)一次光刻;(4)P环扩散;(5)二次光刻沟槽;(6)一次腐蚀;(7)三次光刻,去除沟间隔的氧化层;(8)二次腐蚀;(9)正面溅射金属Pt、Ni;(10)蒸发正面接触金属Ti、Ni、Ag;(11)光刻金属;(12)背面减薄;(13)蒸发背面接触金属Ti、Ni、Ag,得成品。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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