[发明专利]一种肖特基芯片的生产工艺及生产工艺所用腐蚀液有效

专利信息
申请号: 201110189705.9 申请日: 2011-07-07
公开(公告)号: CN102222615A 公开(公告)日: 2011-10-19
发明(设计)人: 王兴龙;邹红兵 申请(专利权)人: 重庆平伟实业股份有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L21/306
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 405200 重庆*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明公开了一种肖特基芯片的生产工艺,包括以下步骤:提供一原始外延硅片;对原始外延硅片进行氧化,形成氧化层;一次光刻;P环扩散;二次光刻沟槽;一次腐蚀;三次光刻,去除沟间隔的氧化层;二次腐蚀;正面溅射金属Pt、Ni;蒸发正面接触金属Ti、Ni、Ag;光刻金属;背面减薄;蒸发背面接触金属Ti、Ni、Ag,得成品。本发明还公开了一种肖特基芯片的生产工艺所用的腐蚀液,其组份为:HF、HAC、H2O2、HNO3。采用本发明加工肖特基芯片,可实现深度为1.0微米、精度为±0.15微米的光滑沟槽,并使硅的表面积约扩大20%以上,所以同样的芯片面积,采用本发明工作效率提高接近20%,为肖特基芯片的批量生产打下了坚实基础。
搜索关键词: 一种 肖特基 芯片 生产工艺 所用 腐蚀
【主权项】:
一种肖特基芯片的生产工艺,其特征在于:包括以下步骤:(1)提供一原始外延硅片;(2)对原始外延硅片进行氧化,形成氧化层;(3)一次光刻;(4)P环扩散;(5)二次光刻沟槽;(6)一次腐蚀;(7)三次光刻,去除沟间隔的氧化层;(8)二次腐蚀;(9)正面溅射金属Pt、Ni;(10)蒸发正面接触金属Ti、Ni、Ag;(11)光刻金属;(12)背面减薄;(13)蒸发背面接触金属Ti、Ni、Ag,得成品。
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