[发明专利]用于水泥基材料的非接触式激光位移测量系统有效

专利信息
申请号: 201010543263.9 申请日: 2010-11-11
公开(公告)号: CN102072704A 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 韩建国;阎培渝 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 朱琨
地址: 100084 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 用于水泥基材料的非接触式激光位移测量系统,属于水泥基胶凝材料在水化和干燥过程中的应变测量技术。其特征在于:在硬件架构方面,包括激光位移传感器及其固定用支架,温度信号传感器,安装于该固定支架上的水平和垂直方向位置调节旋钮,水泥基材料成型用模具,被测试水泥基材料试样,埋置于所述被测试水泥基材料试样中的激光信号反射靶,控制器和计算机,所述控制器中装有:所述试样位移信号调理模块,所述试样温度信号调理模块和数据采集卡;在软件方面:所述计算机中装有考虑温度变化的、计算所述试样应变量的测量和分析软件。本发明具有测试精度高、采样频率快、测试过程不受周围电磁干扰、不受所述试样材质和颜色的影响的优点。
搜索关键词: 用于 水泥 基材 接触 激光 位移 测量 系统
【主权项】:
1.用于水泥基材料的非接触式激光位移测量系统,其特征在于,包括:激光位移传感器固定用支架(1),左右共两个(1-1,1-2),水泥基材料成型用模具(2),被测试水泥基材料试样(3),温度传感器(4),埋置于所述被测试水泥基材料试样(3)中的激光信号反射靶(5),左右共两个(5-1,5-2),安装在所述激光位移传感器固定用支架(1)上的水平方向和垂直方向位置调节用旋钮(6),左右共两个(6-1,6-2),激光位移传感器(7),左右共两个(7-1,7-2),激光信号的光束(10),所述激光位移传感器(7)至控制器(11)的信号线(8),所述温度传感器(4)至控制器(11)的信号线(9),所述控制器(11)和计算机(12),其中:所述激光信号反射靶(5),采用金属、橡胶和玻璃中的任何一种,沿所述被测试水泥基材料试样(3)的长度方向,在左右两侧各有一个,中间的间距就是标距L,所述计算机(12),依次按以下步骤测量所述被测试水泥基材料试样(3)沿长度方向上考虑温度影响后的应变量i为所述激光位移传感器(7)的序号,i=1,2,表示所述两个激光位移传感器(7-1,7-2),分别位于所述埋置于试样中的激光信号反射靶(5-1,5-2)的外侧,m为测试时间点的序号,步骤(1),初始化,步骤(1.1),所述控制器(11)初始化:设立AMT-300型位移信号调理模块,接收所述试样(3)的位移信号,AMT-RTD型温度信号调理模块,接收所述试样(3)的温度信号,以及USB-7352型数据采集卡,接收调理后的所述位移、温度信号后输入所述计算机,步骤(1.2),所述计算机(12)初始化:用户输入初始化参数,包括:程序开始时刻m1,环境的和所述被测试水泥基材料试样(3)的初始温度T和T1,T=T1,以及所述激光位移传感器(7)的零点位置与所述激光信号反射靶(5)之间在环境温度T时,所述程序记录开始时刻m1时的间距,用户选择或输入测试持续时间M以及采样时间间隔值,所述被测试水泥基材料试样(3)在环境温度T下的热膨胀系数αT,所述标距L以及数据保存时间间隔;步骤(2),所述计算机(12)按以下步骤进行测量,步骤(2.1),判断用户实时输入的所述激光位移传感器(7)的工作模式是单点还是两点协同工作,并确定之,步骤(2.2),令所述控制器(11),按设定的采样间隔采集各时间点m下各所述激光位移传感器(7)的位移测量值D1,m和/或D2,m,并按下式计算所述被测试水泥基材料试样(3)的应变量εi,m,在单点工作模式下为:ϵi,m=Di,mL,]]>i=1或2,在两点协同工作模式下:ϵi,m=D1,m+D2,mL,]]>同时,再根据采集到的所述被测试水泥基材料试样(3)的温度Tm以及热膨胀系数αm,按下式计算考虑温度影响后所述被测试水泥基试样(3)的应变量ϵi,m=ϵi,m+Σj=1mTjαj,]]>其中:αi等于环境温度T下m1时间点的热膨胀系数αT
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