[发明专利]用以避免NMOS组件承受过高电压的保护电路有效

专利信息
申请号: 200710166739.X 申请日: 2007-11-02
公开(公告)号: CN101425799A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 叶俊文 申请(专利权)人: 晨星半导体股份有限公司
主分类号: H03K17/081 分类号: H03K17/081;H03K17/0812;H03K17/687
代理公司: 上海虹桥正瀚律师事务所 代理人: 李佳铭
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种针对NMOS组件的保护电路,其中包含一串联NMOS晶体管和一调整电路。该串联NMOS晶体管串接于该NMOS组件与一外部电压源之间。该调整电路耦接至该外部电压源、一第一内部电压源,以及该串联NMOS晶体管的一闸极,并用以根据该外部电压源和该第一内部电压源的电压,调整该串联NMOS晶体管的该闸极的电压,借此保护该NMOS组件免于承受因该外部电压源造成的一过高电压。
搜索关键词: 用以 避免 nmos 组件 承受 过高 电压 保护 电路
【主权项】:
1、一种用以避免一NMOS组件承受过高电压的保护电路,其特征在于,包含:一串联NMOS晶体管,串接于所述NMOS组件与一外部电压源之间;以及一调整电路,耦接至所述外部电压源、一第一内部电压源,以及所述串联NMOS晶体管的一闸极,用以根据所述外部电压源和所述第一内部电压源的电压,调整所述串联NMOS晶体管的所述闸极的电压,借此保护所述NMOS组件免于承受因所述外部电压源造成的一过高电压。
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