[发明专利]一种磁控管溅射装置无效

专利信息
申请号: 200610155915.5 申请日: 2006-12-31
公开(公告)号: CN101210314A 公开(公告)日: 2008-07-02
发明(设计)人: 肖金泉;张小波;孙超;宫骏;华伟刚;石南林;闻立时 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 代理人: 张志伟
地址: 110016辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及真空镀膜磁控溅射沉积技术,更具体地,涉及一种在真空溅射镀膜时使用的溅射装置,包括:磁控管(1)和电磁线圈(6),彼此同轴相对放置,其中电磁线圈(6)可以沿着磁控管(1)中心轴线远近移动。通过控制电磁线圈(6)的电流大小及方向,和改变电磁线圈与磁控管的相对位置,可以方便有效地改变磁控管和基片区域的磁场位形分布,改变基片区域的等离子体密度。此外当电磁线圈(6)通以低频交流电时,靶材表面的刻蚀跑道变宽,刻蚀更均匀,可以简单有效的提高靶材利用率,同时可以改善沉积薄膜的厚度和性能在空间上的不均匀。本发明具有结构简单,方便、易操作等特点。
搜索关键词: 一种 磁控管 溅射 装置
【主权项】:
1.一种磁控管溅射装置,其特征在于:包括磁控管(1)和电磁线圈(6)两个部分,所述两个装置同轴相对放置;所述的电磁线圈(6)沿磁控管(1)中心线移动放置在磁控管(1)外侧或基片(5)旁或两者之间的任一位置;调节电磁线圈的电流大小及方向,产生一个与磁控管同轴的辅助磁场。
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