[发明专利]成膜方法和存储介质无效
申请号: | 200580043869.3 | 申请日: | 2005-12-12 |
公开(公告)号: | CN101084327A | 公开(公告)日: | 2007-12-05 |
发明(设计)人: | 石坂忠大;五味淳;若林哲 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44;H01L21/285;H01L21/3205 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种成膜方法,该成膜方法利用下述成膜装置,该成膜装置包括:处理容器,其内部具备保持被处理基板的保持台;和喷头部,向上述处理容器内供给用于成膜的处理气体,向该处理容器内施加用于激发等离子体的高频电力。该成膜方法的特征在于,包括:成膜工序,在上述被处理基板上形成含有金属的薄膜;和保护膜形成工序,在上述成膜工序之前,在上述喷头部形成含有其它金属的保护膜。 | ||
搜索关键词: | 方法 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种成膜方法,利用下述成膜装置,该成膜装置包括:处理容器,在内部具备保持被处理基板的保持台;和气体供给部,以能够施加高频电力的方式构成,向所述处理容器内供给成膜气体或还原该成膜气体的还原气体,该成膜方法的特征在于,包括:第一工序,向所述处理容器内供给含有金属元素和卤素的所述成膜气体;第二工序,向所述处理容器内供给所述还原气体;和第三工序,向所述气体供给部施加高频电力,在所述处理容器内激发等离子体,在所述被处理基板上进行成膜,还设有保护膜形成工序,形成保护所述气体供给部的保护膜,使该气体供给部不受在所述第三工序中被活化的所述卤素的蚀刻。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的