[发明专利]半导体集成电路器件的设计方法无效
| 申请号： | 200510088200.8 | 申请日： | 2005-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN1725225A | 公开（公告）日： | 2006-01-25 |
| 发明（设计）人： | 西川亮太;深津元 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 沈昭坤 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 是一种半导体集成电路器件的设计方法。对半导体集成电路器件内路径中的超过所要求的信号传递时间的路径，分离路径使与属于该路径的构成要素的输出连接的其他的构成要素的数量减少。通过这样，提供可以实现提高半导体集成电路器件的性能和速度的设计方法，同时提供与利用现有的EDA工具的自动化设计流程融合，可以进行比现有技术性能更高和速度更快的设计方法。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 器件 设计 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路器件的设计方法，其特征在于，对器件内的路径中的超过所要求的信号传递时间的路径，分离路径使与属于该路径的构成要素的输出连接的其他的构成要素的数量减少。
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