[发明专利]微阵列芯片检测系统有效

专利信息
申请号: 200510063208.9 申请日: 2005-04-06
公开(公告)号: CN1657913A 公开(公告)日: 2005-08-24
发明(设计)人: 黄国亮;程京;王宪华;宋小波;陈任远;肖明;朱疆;杨阳;董中华 申请(专利权)人: 北京博奥生物芯片有限责任公司;清华大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/17;G01N35/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 关畅
地址: 102206北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种微阵列芯片检测系统,包括有入射光生成系统、反射光收集系统、收集光处理系统以及放置微阵列芯片的载物台,所述入射光生成系统包括有一激光器、一扩束准直镜以及一柱面整形器;所述反射光收集系统包括有一双焦面成像透镜组、一滤色片以及一CCD探测器。与国际上流行的生物芯片检测仪器相比,本发明不但将扫描和数字成像等功能集于一身,而且其结构简单、成本低廉,尤其是对机械加工的精度要求降低,使得本发明更加利于推广和普及。
搜索关键词: 阵列 芯片 检测 系统
【主权项】:
1、一种微阵列芯片检测系统,包括有入射光生成系统、反射光收集系统、收集光处理系统以及放置微阵列芯片的载物台,其特征在于:所述入射光生成系统包括有一激光器、一扩束准直镜以及一柱面整形器;所述反射光收集系统包括有一双焦面成像透镜组、一滤色片以及一CCD探测器。
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