[发明专利]一种芯片温度异常在线检测方法

权利要求书

1.一种芯片温度异常在线检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

采集芯片内部每个传感器所有时刻的温度数据、每个传感器的标准温度数据、每个单核每个时刻的功耗数据及额定功耗数据；

根据同一时刻的温度数据获取每个传感器每个时刻的第一温度异常特征，根据功耗数据获取每个单核上的传感器的单一工作时刻，根据单一工作时刻的温度数据，获取每个单核上的传感器对于其他每个传感器的辐射比例，对每个单核上的传感器分别与其他每个传感器进行连线，根据连线获取每个单核上的传感器对于其他每个传感器的辐射干扰传感器，根据功耗数据获取每个单核上的传感器与辐射干扰传感器的双重工作时刻，根据双重工作时刻的温度数据及连线，获取每个单核上的传感器对于其他每个传感器的辐射比例对应的调整系数；

根据标准温度数据、辐射比例及调整系数，获取每个传感器每个时刻的理论温度数据，根据理论温度数据及采集的温度数据，获取每个传感器每个时刻的第二温度异常特征，根据第一温度异常特征及第二温度异常特征得到每个传感器每个时刻的综合温度异常特征；

根据温度数据通过综合温度异常特征选取自适应K邻域范围，完成温度数据的异常检测；

所述根据同一时刻的温度数据获取每个传感器每个时刻的第一温度异常特征，包括的具体方法为：

以任意一个时刻为目标时刻，获取目标时刻下所有温度数据的均值，将目标时刻下每个传感器的温度数据与温度数据均值的差值绝对值，作为目标时刻下每个传感器的第一温度异常特征；

获取每个传感器每个时刻的第一温度异常特征；

所述获取每个传感器每个时刻的第二温度异常特征，包括的具体方法为：

将每个传感器每个时刻的理论温度数据与采集的温度数据的差值绝对值，作为每个传感器每个时刻的第二温度异常特征。

2.根据权利要求1所述的一种芯片温度异常在线检测方法，其特征在于，所述根据功耗数据获取每个单核上的传感器的单一工作时刻，包括的具体方法为：

以任意一个单核为目标单核，目标单核上的传感器为目标传感器，获取所有时刻中仅目标单核的功耗数据不等于额定功耗数据，而其他单核均为额定功耗数据的若干时刻，记为目标单核上的传感器的单一工作时刻；

获取每个单核上的传感器的单一工作时刻。

3.根据权利要求1所述的一种芯片温度异常在线检测方法，其特征在于，所述获取每个单核上的传感器对于其他每个传感器的辐射比例，包括的具体方法为：

以单核上的传感器的任意一个单一工作时刻为目标单一工作时刻，单核上的传感器在目标单一工作时刻对于第个传感器的温度影响系数的计算方法为：

其中，表示目标单一工作时刻下单核上的传感器的温度变化值，表示目标单一工作时刻下第个传感器的温度变化值，表示求绝对值；所述温度变化值表示目标单一时刻下的温度数据与标准温度数据的差值绝对值；

获取单核上的传感器在每个单一工作时刻对于第个传感器的温度影响系数，将所有温度影响系数的均值作为单核上的传感器对于第个传感器的辐射比例；

获取每个单核上的传感器对于其他每个传感器的辐射比例。

4.根据权利要求1所述的一种芯片温度异常在线检测方法，其特征在于，所述根据连线获取每个单核上的传感器对于其他每个传感器的辐射干扰传感器，包括的具体方法为：

将两个传感器之间的欧式距离作为两个传感器的连线长度，以单核上的传感器为参考传感器，获取除参考传感器其他每个单核上的传感器与第个传感器的连线，提取其中连线长度小于等于参考传感器与第个传感器的连线长度的单核上的传感器，将得到的传感器记为参考传感器对于第个传感器的辐射干扰传感器；

获取每个单核上的传感器对于其他每个传感器的辐射干扰传感器。