[发明专利]一种调试系统中数据的处理方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请是关于一种调试系统中数据的处理方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：通过目标调试模块监测目标功能模块中待调试数据的变化，待调试数据包括目标寄存器存储的寄存器数据以及第一IO引脚的状态数据；目标寄存器以及第一IO引脚分别为在目标功能模块的调试过程中调用的寄存器与IO引脚；当待调试数据变化后，将待调试数据记录至目标调试模块对应的寄存器中，得到映射调试数据；当接收到主机设备读取映射调试数据的请求时，通过目标调试模块将映射调试数据通过目标IO引脚发送至主机设备。在不设计额外电路的基础上可以获取CPLD器件内部寄存器中的数据以及IO引脚状态数据，进而简化调试流程的同时较低调试难度。

技术领域

本申请涉及硬件可编程技术领域，具体涉及一种调试系统中数据的处理方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着超大规模可编程逻辑器件的发展，复杂可编程逻辑器件(ComplexProgrammable Logic Device，CPLD)由于具有灵活设计、在线升级系统、节约系统资源、节约制版费用以及设计周期短等优势被广泛地应用在电子线路设计中。

在使用CPLD器件进行调试时，如果用户能够得到CPLD器件内部的寄存器中的数据以及IO引脚的状态数据，就可以非常快速的分析定位问题，加快调试进度。但除了一些高端的CPLD器件会提供在线调试接口以方便用户获得CPLD器件内部的寄存器中的数据以及IO引脚的状态数据外，大多数的CPLD器件并不能支持用户在线获取CPLD器件内部寄存器中的数据或IO引脚状态数据。导致用户在调试时，只能在调试主机设备中的IDE软件上不断地调试代码实现问题的分析定位，使得调试过程非常繁琐。此外，用户只能通过万用表或者示波器进行测量CPLD器件内IO引脚的状态数据，增大了用户调试的难度。

因此，如何在不设计额外电路的基础上获取CPLD器件内部寄存器中的数据以及IO引脚状态数据，以简化调试流程的同时较低调试难度，已成为急需解决的问题。

发明内容

本申请提供了一种调试系统中数据的处理方法、装置、设备及存储介质，在不设计额外电路的基础上可以获取CPLD器件内部寄存器中的数据以及IO引脚状态数据，进而简化调试流程的同时较低调试难度，该技术方案如下。

一方面，提供了一种调试系统中数据的处理方法，调试系统包括从机设备以及主机设备，从机设备包括待调试的目标功能模块以及目标调试模块，从机设备基于目标IO引脚与主机设备通信连接；

所述方法由从机设备执行，所述方法包括：

通过目标调试模块监测目标功能模块中待调试数据的变化，待调试数据包括目标寄存器的数据以及第一IO引脚的状态数据；目标寄存器以及第一IO引脚分别为在目标功能模块的调试过程中调用的寄存器与IO引脚；

当待调试数据变化后，将待调试数据记录至目标调试模块对应的寄存器中，得到映射调试数据；

当接收到主机设备读取映射调试数据的请求时，通过目标调试模块将映射调试数据通过目标IO引脚发送至主机设备。

在上述技术方案中，从机设备基于目标IO引脚与主机设备通信连接，能够通过从机设备中的目标调试模块监测从机设备中待调试的目标功能模块中待调试数据的变化，以将变化的待调试数据记录至到目标调试模块中，得到映射调试数据。转而在接收到主机设备读取映射调试数据的请求时，可以直接将映射调试数据通过目标IO引脚发送至主机设备，在从机设备与主机设备之间未设置额外的硬件电路的同时，实现了在主机设备端直接读取映射调试数据。可以理解的是，映射调试数据包括在调试目标功能模块的过程中被调用目标寄存器中的数据以及第一IO引脚的状态数据。进而用户就可以在主机设备端根据主机设备接收的包括目标寄存器中的数据以及第一IO引脚的状态数据快速分析定位问题，简化了调试流程的同时较低了调试难度。

可选的，从机设备包括时间戳寄存器，当待调试数据变化后，将待调试数据记录至目标调试模块对应的寄存器中，得到映射调试数据内包括：