[发明专利]低电位反馈的比较器在审
申请号: | 202310333690.1 | 申请日: | 2023-03-31 |
公开(公告)号: | CN116318085A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 谢雨桥;张志军 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H03K5/24 | 分类号: | H03K5/24;H03M1/08 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 刘昌荣 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电位 反馈 比较 | ||
1.一种低电位反馈的比较器,其特征在于,包括:
前置放大级电路,所述前置放大级电路用于放大第一、二输入信号;
比较器电路,所述比较器电路用于接收第一、二输入信号进行电压比较,从而输出第一、二输出信号;
反馈模块,所述反馈模块用于接收第一、二输出信号的扰动信号,产生第一、二反馈信号反馈于第一、二输出信号,使得原为L或X状态的第一、二输出信号的电位拉低。
2.根据权利要求1所述的低电位反馈的比较器,其特征在于:所述前置放大级电路为差动放大电路。
3.根据权利要求1所述的低电位反馈的比较器,其特征在于:所述扰动信号包括正向电压扰动与负向电压扰动。
4.根据权利要求3所述的低电位反馈的比较器,其特征在于:所述比较器为P型差分对,反馈模块用于所述正向电压扰动或负向电压扰动。
5.根据权利要求4所述的低电位反馈的比较器,其特征在于:
所述前置放大级电路包括第一PMOS、第二PMOS、第三PMOS、第四NMOS和第五NMOS;
所述比较器电路包括第六NMOS和第七NMOS;其中,
所述第一PMOS的源极接电源电压,第一PMOS的栅极接偏置电压,第二PMOS的栅极接第一输入信号,第三PMOS的栅极接第二输入信号,第一PMOS的漏极分别与第二PMOS,第三PMOS的源极连接,第二PMOS的漏极与第四NMOS的漏极连接,第三PMOS的漏极与第五NMOS漏极连接;
所述第四NMOS的漏极与栅极短接,第四NMOS的栅极与第六NMOS的栅极连接,第五NMOS的漏极与栅极短接,第五NMOS的栅极与第七NMOS的栅极连接;第四NMOS、第五NMOS、第六NMOS、第七NMOS的源极依次连接且接电源地;
所述第六NMOS的漏极分别与第五NMOS的漏极、第三PMOS的漏极以及反馈模块的第二输入端连接,反馈模块的第二输出端分别与第五NMOS的漏极、第三PMOS的漏极连接;第七NMOS的漏极分别与第四NMOS的漏极、第二PMOS的漏极以及反馈模块的第一输入端连接,反馈模块的第一输出端分别与第四NMOS的漏极、第二PMOS的漏极连接。
6.根据权利要求5所述的低电位反馈的比较器,其特征在于:所述反馈模块包括第八PMOS、第九PMOS、第十PMOS、第十一NMOS、第十二NMOS、第十三NMOS、第十四NMOS和逻辑模块;其中,
所述第八PMOS、第九PMOS、第十PMOS的源极均接电源电压;
所述第八PMOS的栅极与漏极短接,第八PMOS的漏极接偏置电流,第八PMOS的栅极与第一PMOS的栅极连接,第九PMOS和第十PMOS的栅极均接偏置电压;
所述第九PMOS的漏极与第十一NMOS的漏极连接,第十PMOS的漏极与第十二NMOS的漏极连接,第十三NMOS的漏极分别与第六NMOS的漏极以及第五NMOS的漏极、第三PMOS的漏极连接,第十四NMOS的漏极分别与第七NMOS的漏极以及第四NMOS的漏极、第二PMOS的漏极连接;
所述第十一NMOS、第十二NMOS、第十三NMOS、第十四NMOS的源极均接电源地;
所述第十一NMOS的栅极与第二PMOS、第四NMOS的漏极连接,第十二NMOS的栅极与第三PMOS、第五NMOS的漏极连接;
所述逻辑模块的第一输入端与第九PMOS、第十一NMOS的漏极连接,逻辑模块的第一输出端与第十三NMOS的栅极连接;逻辑模块的第二输入端连接与第十PMOS和第十二NMOS的漏极连接,逻辑模块的第二输出端与第十四NMOS的栅极连接。
7.根据权利要求3所述的低电位反馈的比较器,其特征在于:所述比较器为P型差分对,反馈模块用于所述正向电压扰动和所述负向电压扰动。
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