[发明专利]无支架电池模组入箱的生产方法、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202310192248.1 申请日: 2023-03-02
公开(公告)号: CN116154260A 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 蔡志鹏;郭庆明;骆志为;施生发 申请(专利权)人: 惠州市德赛智储科技有限公司
主分类号: H01M10/04 分类号: H01M10/04;G01D21/02
代理公司: 广东创合知识产权代理有限公司 44690 代理人: 任海燕
地址: 516000 广东省惠州市惠*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 支架 电池 模组 生产 方法 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种无支架电池模组入箱的生产方法,其特征在于,所述生产方法至少包括:

S100:将若干电芯堆叠成电池模组;

S200:激光焊接所述电池模组的汇流排以及FPC镍片,并进行安全规范测试;

S300:贴附铭牌和成品码,插线和预装箱盖形成半成品,并进行半成品性能测试和老化性能测试;

S400:打密封胶、保压箱盖、气密性测试以及安装透气阀形成成品,并进行成品性能测试和外观检测;

S500:对完成外观检测的成品进行后序处理流程。

2.根据权利要求1所述的无支架电池模组入箱的生产方法,其特征在于,所述S100,具体包括:电芯外观检测、电芯开路电压测试、电芯极耳清洗、电芯表面贴双面胶、电芯极柱对齐堆叠成电池模组、对箱体进行气密性测试、箱体安装接口连接器、箱体底部打结构胶、配置单电芯使用的所有螺丝、电池模组堆叠入箱体、压紧电池模组以及链接电池模组。

3.根据权利要求1所述的无支架电池模组入箱的生产方法,其特征在于,所述安全规范测试,至少包括:交流电阻测试、直流电阻测试、绝缘性能测试、以及耐压性能测试。

4.根据权利要求1所述的无支架电池模组入箱的生产方法,其特征在于,所述半成品性能测试和成品性能测试,至少包括:产品通信测试、单体精度测试、单体压差测试、单体个数测试、Cell温度测试、Cell温度差值测试、0.5C充电精度测试、以及1C放电精度测试。

5.根据权利要求1所述的无支架电池模组入箱的生产方法,其特征在于,所述气密性测试标准为小于2.5L/min。

6.根据权利要求1所述的无支架电池模组入箱的生产方法,其特征在于,所述老化性能测试,至少包括:产品通信连接、充电、一次静置、放空、二次静置以及回充。

7.根据权利要求1所述的无支架电池模组入箱的生产方法,其特征在于,所述外观检测,至少包括:形变程度、色差、裂纹、刮痕、干燥度、是否存在异物、铭牌和条形码的清晰度以及配件的数量。

8.根据权利要求1所述的无支架电池模组入箱的生产方法,其特征在于,所述S500,具体包括:清洁成品表面、打印粘贴标贴、产品检测、预封纸箱、搬运装箱、放入附件、封装箱体、称重,打印并粘贴重量标签、将封装后的箱体堆于栈板。

9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备应用如权利要求1-8任一所述的无支架电池模组入箱的生产方法。

10.一种存储介质,其特征在于,位于任意控制单元,所述存储介质包括可被处理器执行的计算机程序,所述计算机程序用于执行如权利要求1-8任一所述的无支架电池模组入箱的生产方法。

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