[发明专利]具有芯片上遮挡物检测的图像传感器及其方法在审
| 申请号: | 202310007699.3 | 申请日: | 2023-01-04 |
| 公开(公告)号: | CN116647662A | 公开(公告)日: | 2023-08-25 |
| 发明(设计)人: | 慕博;B·佛勒 | 申请(专利权)人: | 豪威科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 刘媛媛 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 芯片 遮挡 检测 图像传感器 及其 方法 | ||
1.一种成像系统,其包括:
图像传感器,其包含按行及列布置的像素阵列以成像外部场景;以及
控制器,其耦合到所述图像传感器,所述控制器包含逻辑存储指令,所述指令在由所述控制器执行时致使所述成像系统执行操作,所述操作包括:
用所述图像传感器捕获所述外部场景的图像,所述图像包含第一图像及第二图像;
产生所述图像的缩减表示,其中所述缩减表示中的每一者具有小于所述图像中的相应者的全大小分辨率的对应分辨率,且其中所述缩减表示包含与所述第一图像相关联的第一缩减表示及与所述第二图像相关联的第二缩减表示;及
比较所述第一缩减表示与所述第二缩减表示以确定所述第一图像与所述第二图像之间的差异;以及
当所述差异大于阈值时,识别影响成像所述外部场景的所述图像传感器的遮挡物的出现。
2.根据权利要求1所述的成像系统,其中所述图像的所述缩减表示包含所述图像的至少行轮廓或列轮廓,其中所述行轮廓对应于基于所述图像中每一者的所述像素阵列的所述行的在逐行基础上的平均行强度,其中所述列轮廓对应于基于所述图像中每一者的所述像素阵列的所述列的在逐列基础上的平均列强度。
3.根据权利要求2所述的成像系统,其中所述差异对应于所述第一图像与所述第二图像之间的所述平均行强度或所述平均列强度的改变。
4.根据权利要求2所述的成像系统,所述逻辑存储额外指令,所述指令在由所述控制器执行时致使所述成像系统执行另外操作,所述操作包括:
基于所述第一图像与所述第二图像之间的所述差异大于所述阈值的位置来识别受所述遮挡物影响的所述图像传感器的一或多个区;
监测所述第一图像及所述第二图像之后的图像的对应区,以确定所述遮挡物在一时间段内是否是静止的,其中所述图像的所述对应区与被识别为受所述遮挡物影响的所述图像传感器的所述一或多个区相关联;及
当所述遮挡物是静止的所述时间段大于时间阈值时,验证所述遮挡物正在影响所述图像传感器。
5.根据权利要求4所述的成像系统,所述逻辑存储额外指令,所述指令在由所述控制器执行时致使所述成像系统执行另外操作,所述操作包括:
产生与包含在所述图像中的第三图像相关联的深度图,其中所述第三图像在时间上在所述第一图像及所述第二图像之后,其中;
基于所述深度图来确定所述遮挡物与所述图像传感器的距离,以在所述距离小于深度阈值时进一步验证所述遮挡物正在影响所述图像传感器。
6.根据权利要求5所述的成像系统,所述逻辑存储额外指令,所述指令在由所述控制器执行时致使所述成像系统执行另外操作,所述操作包括向所述成像系统的用户输出指示影响所述图像传感器的所述遮挡物的存在的通知。
7.根据权利要求1所述的成像系统,其中产生所述缩减表示进一步包含确定所述图像的一或多个区的平均强度,且其中所述差异对应于所述第一图像及所述第二图像的所述一或多个区之间的平均强度差异。
8.根据权利要求1所述的成像系统,所述逻辑存储额外指令,所述指令在由所述控制器执行时致使所述成像系统执行另外操作,所述操作包括:
产生与包含在所述图像中的第三图像相关联的深度图,其中所述第三图像在时间上在所述第一图像及所述第二图像之后;及
基于所述深度图来确定所述遮挡物与所述图像传感器的距离,以在所述距离小于深度阈值时验证所述遮挡物正在影响所述图像传感器。
9.根据权利要求8所述的成像系统,所述逻辑存储额外指令,所述指令在由所述控制器执行时致使所述成像系统执行另外操作,所述操作包括向所述成像系统的用户输出指示影响所述图像传感器的所述遮挡物的所述存在的通知。
10.根据权利要求1所述的成像系统,其中所述逻辑对应于与所述图像传感器相关联的芯片上存储器,且其中所述图像的所述缩减表示存储在所述芯片上存储器中,以在没有外部存储器或外部处理的情况下局部地识别所述遮挡物的所述出现。
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