[实用新型]一种高压可控硅光耦检测装置

说明书

本实用新型公开了一种高压可控硅光耦检测装置，包括光耦罩和铰链合页，所述光耦罩的后端设置有光耦检测安装机构，且光耦检测安装机构的顶端安装有光耦检测压制机构，所述铰链合页设置于光耦检测压制机构的后端，所述光耦检测压制机构的两侧安装有限位架，且限位架的内部安装有贯穿柱。该高压可控硅光耦检测装置，使用者能够将要检测的高压可控硅光耦放置在光耦罩内部时，使得滑轨活动安装在光耦罩的两侧，检测外接接端罩可贯穿安装在滑轨和光耦罩的两侧，滑动展开的滑轨和光耦罩通过检测外接接端罩进行检测设备连接，避免光耦检测装置安装夹持松动，提高高压可控硅光耦检测效果，改变单线检测结构，利于高压可控硅光耦检测数据对比。

技术领域

本实用新型涉及光耦检测装置技术领域，具体为一种高压可控硅光耦检测装置。

背景技术

光耦检测装置脉冲信号源输出方面，高压源标配1400V(选配2KV)，高流源标配100A(选配40A,200A)栅极电压40V，栅极电流10mA，分辨率最高至1mV/30pA，精度最高可至0.5％，程控软件基于LabVIEW平台编写，填充式菜单界面，采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠，但是高压可控硅光耦检测装置存在接端缺陷，难以夹持安装检测端。

市场上的光耦检测装置存在安装夹持松动，影响高压可控硅光耦检测效果，采用单线检测结构，高压可控硅光耦检测数据对比偏差大等，接端插件处绝缘效果不佳，检测接端处隔离效果不佳，影响高压可控硅光耦检测数据。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种高压可控硅光耦检测装置，以解决上述背景技术中提出的市场上的光耦检测装置存在安装夹持松动，影响高压可控硅光耦检测效果，采用单线检测结构，高压可控硅光耦检测数据对比偏差大等，接端插件处绝缘效果不佳，检测接端处隔离效果不佳，影响高压可控硅光耦检测数据的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种高压可控硅光耦检测装置，包括光耦罩和铰链合页，所述光耦罩的后端设置有光耦检测安装机构，且光耦检测安装机构的顶端安装有光耦检测压制机构，所述铰链合页设置于光耦检测压制机构的后端，所述光耦检测压制机构的两侧安装有限位架，且限位架的内部安装有贯穿柱，所述光耦罩的两侧设置有嵌入轨机构，所述嵌入轨机构的内部安装有滑轨，且滑轨的内部设置有检测外接接端罩。

进一步的，所述光耦罩与嵌入轨机构之间为活动连接，且光耦罩通过嵌入轨机构与光耦检测安装机构构成卡合结构。

进一步的，所述光耦检测安装机构与限位架之间为活动连接，且限位架与贯穿柱之间为螺纹连接。

进一步的，所述滑轨的内部贯穿有检测外接接端罩，且滑轨通过检测外接接端罩与光耦检测安装机构构成滑动结构。

进一步的，所述光耦检测安装机构包括接端架和绝缘罩，所述光耦检测安装机构的后端安装有接端架，且接端架的内部设置有绝缘罩。

进一步的，所述接端架与绝缘罩相贴合，且接端架通过绝缘罩与光耦检测安装机构构成弹性结构。

进一步的，所述光耦检测压制机构包括夹持架和模型螺纹柱，所述光耦检测压制机构的内部安装有夹持架，且夹持架的内部设置有模型螺纹柱。

进一步的，所述夹持架与模型螺纹柱之间为螺纹连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

该高压可控硅光耦检测装置，使用者能够将要检测的高压可控硅光耦放置在光耦罩内部时，使得滑轨活动安装在光耦罩的两侧，检测外接接端罩可贯穿安装在滑轨和光耦罩的两侧，滑动展开的滑轨和光耦罩通过检测外接接端罩进行检测设备连接，避免光耦检测装置安装夹持松动，提高高压可控硅光耦检测效果，改变单线检测结构，利于高压可控硅光耦检测数据对比。