[实用新型]晶圆检测设备真空管有效
| 申请号: | 202222184303.6 | 申请日: | 2022-08-18 |
| 公开(公告)号: | CN218456055U | 公开(公告)日: | 2023-02-07 |
| 发明(设计)人: | 丁大胜 | 申请(专利权)人: | 杭州富芯半导体有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/66 |
| 代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 丁俊萍;王律强 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 检测 设备 真空管 | ||
1.一种晶圆检测设备真空管(1),其特征在于,包括:
第一连接管段(10),其具有第一连接端(100)和第二连接端(101),所述第一连接端(100)连接于真空阀(2);
第二连接管段(11),其具有第三连接端(110)和第四连接端(111),所述第三连接端(110)连接于晶圆载台(3);以及
弯折替换件(12),其包括第一端(120)和第二端(121),所述第一端(120)活动连接于所述第二连接端(101),所述第二端(121)活动连接于所述第四连接端(111),所述弯折替换件(12)用于承受所述晶圆检测设备真空管(1)在运动过程中产生的弯矩。
2.根据权利要求1所述的晶圆检测设备真空管(1),其特征在于,所述弯折替换件(12)为管道,所述第一端(120)和所述第二连接端(101)连通,所述第二端(121)和所述第四连接端(111)连通。
3.根据权利要求2所述的晶圆检测设备真空管(1),其特征在于,还包括第一快插接头(13),其一端与所述第一端(120)活动连接,所述第一快插接头(13)的另一端与所述第二连接端(101)连接。
4.根据权利要求3所述的晶圆检测设备真空管(1),其特征在于,所述第一快插接头(13)包括第一卡扣(130)、第二卡扣(131)和第一管件(132),所述第一卡扣(130)设置于所述第一管件(132)的一端,所述第一卡扣(130)与所述第一端(120)活动连接,所述第二卡扣(131)设置于所述第一管件(132)的另一端,所述第二卡扣(131)和所述第二连接端(101)连接。
5.根据权利要求2所述的晶圆检测设备真空管(1),其特征在于,还包括第二快插接头(14),其一端和所述第二端(121)活动连接,所述第二快插接头(14)的另一端与所述第四连接端(111)连接。
6.根据权利要求5所述的晶圆检测设备真空管(1),其特征在于,所述第二快插接头(14)包括第三卡扣(140)、第四卡扣(141)和第二管件(142),所述第三卡扣(140)设置于所述第二管件(142)的一端,所述第三卡扣(140)与所述第二端(121)活动连接,所述第四卡扣(141)设置于所述第二管件(142)的另一端,所述第四卡扣(141)和所述第四连接端(111)连接。
7.根据权利要求2-6任一项所述的晶圆检测设备真空管(1),其特征在于,所述弯折替换件(12)为PUR管。
8.根据权利要求1所述的晶圆检测设备真空管(1),其特征在于,所述弯折替换件(12)为套管,在所述第二连接端(101)和所述第四连接端(111)之间设置有弯折管段(12a),所述弯折管段(12a)的一端和所述第一连接管段(10)连通,所述弯折管段(12a)的另一端和所述第二连接管段(11)连通,所述弯折替换件(12)套设于所述弯折管段(12a)。
9.根据权利要求8所述的晶圆检测设备真空管(1),其特征在于,所述弯折替换件(12)为橡胶管。
10.根据权利要求8所述的晶圆检测设备真空管(1),其特征在于,所述弯折替换件(12)通过箍接的方式连接在第二连接端(101)和第四连接端(111)上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





